X射线吸收精细结构XAFS汇编.ppt

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X射线吸收精细结构XAFS汇编

第六章:X射线吸收精细结构(XAFS) 1.XAFS,EXAFS和XANES 历史: 上世纪二十年代,发现凝聚态物质对X射线的吸收系数,在吸收边附近存在量级为的震荡,这一震荡称为X射线吸收精细结构(XAFS) 七十年代,Stern,Sayers,Lytle从理论、实验二方面成功地解释了产生振动的机制,推导了EXAFS的基本公式,提出了处理实验数据的方法和计算机程序,并将它们用于凝聚态物质的结构分析。 随着同步辐射的发展,XAFS已成为研究凝聚态物质,特别是长程无序,短程有序的非晶态、液态、熔态的原子、电子结构的有力工具。 XAFS可分为两部分: 1 EXAFS(扩展X射线吸收精细结构) 吸收边高能侧(30-50)eV至1000eV的吸收系数 的震荡,称为EXAFS。它含有吸收原子的近邻原子结构信息(近邻原子种类、配位数、配位距离等)。 2 XANES(X射线吸收近边结构) 吸收边至高能侧(30-50)eV的吸收系数 的震荡,称为XANES。它含有吸收原子近邻原子结构和电子结构信息。 2. EXAFS产生机制,基本公式 §2.中心给出原子吸收X射线光子的几率, 终态 ,初态 ,在X射线光电吸收中一般为原子内壳层的1s,2s,2p态,与入射光子能量无关。 孤立原子,单原子气体,光电子处于出射态,远离吸收原子传播出去,即终态 为自由电子态,它不随入射光子的能量发生震荡。 双原子气体,凝聚态物质:吸收原子有近邻原子,出射光电子将受近邻原子的背散射,入射光子能量将使光电子波长变短,出射与散射光电子波的叠加结果将发生变化,相长干涉使吸收增加,相消干涉使吸收下降,从而使吸收曲线出现震荡,即产生EXAFS。 定义EXAFS函数 (4-1) k为光电子波矢, (4-2) 式中 为 的平滑变化部分,在物理上相当于孤立原子的吸收系数, 为扣除背底后吸收边高能侧的吸收系数, 为电子在原子内的束缚能。用量子力学理论可以推导出EXAFS的基本公式: (4-3) (4-3)表明, 将与下列因素有关: (一)与吸收原子周围的第j层近邻层中同种原子数目 、距离 及电子被散射振幅 有关, ( 如不同种原子处于同一近邻原子层中,可将这一近邻原子层看作几个不同的近邻原子层)。 (二)与散射光电子的位相改变有关。位相改变包含两部分,光程差引起的位相差,及出射处势场和背散处势场引起的相移, 。 (三)第j层原子的漫散分布程度有关,它包含热振动和原子无序分布的影响,若原子分布为高斯型设 为的 均方根偏离,则可表为Debye-Waller温度型的项 。 (四)与光电子的非弹性散射有关, , 为光电子的平均自由程。 3.XAFS实验测量方法 1 透射法 在同步辐射实验室, , 都用离子室(ion chamber) , 测量 (4-4) 样品的厚度通常取 。 2 荧光法 用离子室 测量,荧光用固体探测器(高纯Si,Ge探测器)测量。荧光法适用于薄膜样品和浓度小于5%的厚样品。这时,待测元素A的吸收系数与成正比。 4. EXAFS数据处理 EXAFS数据处理步骤如下: 1 实验测得数据: (透射法), (荧光法) 背底扣除与归一化 a 由吸收边低能侧实验数据拟合 扣除其它壳层的吸收; b 用三次样条函数法拟合 ; c , ,得出归一化的 , , 。 3 Fourier变换 将 进行Fourier变换,得出径向分布函数 4 用窗函数滤出第一配位层,做反Fourier变换,得出第一壳层的 5 由标样或由理论计算得出 , ,将 , ,作拟合参数,对曲线 进行拟合,得出吸收原子的近邻原子信息 , , 。 同步辐射实验站XAFS站通常都有相应的数据处理程序 5.EXAFS的特点 1 样品广泛 EXAFS取决于短程有序作用,不依赖长程有序,因而可测得样品广泛,可用于非晶、液态、熔态、催化剂活性中心,金属蛋白,晶体中的杂质原子的结构研究; 2 X射线吸收边具有元素特征,对样品中不同元素的原子,可分别进行研究; 3 利用荧光法可测量浓度低至的元素的样品; 4 样品制备比较简单。 * * 图22 从吸收原子 黑色 激发出的光电子波函数的径向分布。 图23 透射法的原理图 D0为前X射线探测器 D1为后X射线探测器 图24 荧光法原理图 7.0 7.2 7.4 7.6 EX1keV tm Ex 7.0 7.2 7.4 7.6 EX1keV tm Ex m Ex t mk Ex t 100 200 300 400 E1eV C0l3+D0l3 C1l3+D1l3 t m0 Ex t c E 图26 m E

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