HRTEM高分辨标定-4.docVIP

带轴挺正的，直接标就行，而且是低指数，可以按照标准普标定。 那需要查查pdf 卡片了，还有就是，有没有第二相，或者有序空位，都会差生周围的弱斑点，取向有微小的变化，一般大变形的样品会出现衍射斑点拉长。再有就是结晶生长的样品，生长的过程中也取向会形成略小的差别，就会形成你上面的衍射，要成多晶的话，需要有很多个取向随机的晶粒，你这个显然不是。 用DM软件测量面间距有两种方法，一是在像中直接测量，这种方 法测量方向必须严格垂直于要测的晶面，一般不常用。另外一种方法就是在FFT中测量相应的斑点，因为HRTEM与相应FFT有对应关系，FFT一个斑点代表HRTEM中的相应一组面。方法是将像做FFT，然后用ROI Tool中虚直线工具准确连接相应斑点到中心斑，然后在软件菜单Analysis中里选Calibate，就会有正空间面间距显示。FFT中点少说明像的分辨率或质量不高。希望能得到高人指点啊，最好上面2种方法都介绍一下啊？ 非常感谢USTB版主帮我做了这次TEM实验，标定后也请教了USTB版主。感谢版主！ 两张SAED图，左图经111方向旋转19.5度后得到右图，如果按照图中的标定，两张图可以自洽，可是图中的1/2位置的弱点不好解释，能不能解释成超晶格？ ~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~ 晶体结构参数如下： 物质： Bi0.7La0.3 FeO3 space group: C222 lattice parameters: a 5.5504,b 5.5498,c 3.949, 90,90,90, 以下是XRD图谱中出现的d值 H K L 2Theta/deg d/ I/rel. __________ ___________ ________ 0 0 1 22.497 3.949 50.66 1 1 0 22.639 3.92451 100 1 1 1 32.129 2.78367 95.21 2 0 0 32.23 2.7752 23.64 0 2 0 32.233 2.7749 23.64 2 0 1 39.663 2.27058 30.01 0 2 1 39.666 2.27042 30 0 0 2 45.924 1.9745 10.8 2 2 0 46.227 1.96226 21.28 1 1 2 51.789 1.76384 32.88 2 2 1 51.997 1.75727 32.58 3 1 0 52.064 1.75517 16.24 1 3 0 52.069 1.75502 16.24 2 0 2 57.213 1.60885 13.11 0 2 2 57.215 1.60879 13.11 3 1 1 57.406 1.60389 26.02 1 3 1 57.411 1.60377 26.01 2 2 2 67.207 1.39183 18.39 4 0 0 67.439 1.3876 4.56 0 4 0 67.448 1.38745 4.56 0 0 3 71.632 1.31633 4.04 3 1 2 71.917 1.31181 16.03 1 3 2 71.921 1.31175 16.02 4 0 1 72.088 1.30913 7.98 0 4 1 72.096 1.30901 7.97 3 3 0 72.149 1.30817 7.96 1 1 3 76.228 1.248 14.38 我觉得可以说是超晶格，不过最好有高分辨图。 肯定不对.如果大点是 111 那小点就是1/2 111 很滑稽. 应该是超结构斑点，如果知道 Bi0.7La0.3 FeO3 space group: C222的具体原子位置可以算一下看看，或者再做高分辨确认一下。 超晶格 1970年美国IBM实验室的江崎和朱兆祥提出了超晶格的概念．他们设想如果用两种晶格匹配很好的材料交替地生长周期性结构，每层材料的厚度在100nm以下，如图所示，则电子沿生长方向的运动将会产生振荡，可用于制造微波器件．他们的这个设想两年以后在一种分子束外延设备上得以实现。 一个双超晶格 可见，超晶格材料是两种不同组元以几个纳米到几十个纳米的薄层交替生长并保持严格周期性的多层膜，事实上就是特定形式的层状精细复合材料。 超晶格又分以下几种 1.组分超晶格：在超晶格结构中，如果超晶格的重复单元是由不同半导体材料的薄膜堆垛而成的 叫做组分