《材料分析测试技术》课程试卷答案.docVIP

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  • 2016-09-26 发布于浙江
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《材料分析测试技术》课程试卷答案.doc

《材料分析测试技术》课程试卷答案

选择题:(8分/每题1分) 1. .当X射线X射线X射线X射线X射线X射线X射线表示,结构因素=0时没有衍射我们称 结构消光或 系统消光 。对于有序固溶体,原本消光的地方会出现 弱衍射 。 电磁透镜的像差包括球差、像散和色差。 衍射仪的核心是测角仪圆,它由 辐射源 、 试样台 和 探测器 共同组成 测角仪 。 X射线测定应力常用仪器有应力仪和衍射仪,常用方法有Sin2Ψ法和0o-45o法。 运动学理论的两个基本假设是双束近似和柱体近似。 电子探针包括波谱仪和能谱仪两种仪器。 名词解释:(10分/每题2分) 形状因子——由于晶体形状引起的衍射强度分布变化,又称干涉函数。 聚焦圆——试样对入射X射线产生衍射后能聚焦到探测器上,此时辐射源、试样和探测器三者位于同一个圆周上,这个圆称之聚焦圆。 景深与焦长——在成一幅清晰像的前提下,像平面不变,景物沿光轴前后移动的距离称“景深”;景物不动,像平面沿光轴前后移动的距离称“焦长”。 应变场衬度——由于应变导致样品下表面衍射波振幅与强度改变,产生的衬度称应变场衬度;衬度范围对应应变场大小。 背散射电子——入射电子被样品原子散射回来的部分;它包括弹性散射和非弹性散射部分;背散射电子的作用深度大,产额大小取决于样品原子种类和样品形状。 问答题:(36分/每题9分) X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么? 答:X射线学有三个

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