2014届高三二复习专题--质谱仪专题(精品).docVIP

2014届高三二轮复习专题 质谱仪 一、质谱仪简介 质谱仪，分离和检测不同同位素的仪器。仪器的主要装置放在真空中。 质谱仪能用高能电子流等轰击样品分子，使该分子失去电子变为带正电荷的分子离子和碎片离子。这些不同离子具有不同的质量，质量不同的离子在磁场的作用下到达检测器的时间不同，其结果为质谱图。质谱仪以离子源、质量分析器和离子检测器为核心。离子源是使试样分子在高真空条件下离子化的装置。电离后的分子因接受了过多的能量会进一步碎裂成较小质量的多种碎片离子和中性粒子。它们在加速电场作用下获取具有相同能量的平均动能而进入质量分析器。质量分析器是将同时进入其中的不同质量的离子，按质荷比m/e大小分离的装置。分离后的离子依次进入离子检测器，采集放大离子信号，经计算机处理，绘制成质谱图。离子源、质量分析器和离子检测器都各有多种类型。质谱仪按应用范围分为同位素质谱仪、无机质谱仪和有机质谱仪；按分辨本领分为高分辨、中分辨和低分辨质谱仪；按工作原理分为静态仪器和动态仪器。 .质谱仪是一种测定带电粒子质量和分析同位素的重要工具，它的构造原理如图所示，离子源S产生的各种不同正离子束(速度可视为零)，经加速电场加速后垂直进入有界匀强磁场，到达记录它的照相底片P上，设离子在P上的位置到入口处S1的距离为x， 可以判断 A.离子束是同位素，则x越大，离子质量越大 B.若离子束是同位素，则x越大，离子质量越小 C.只要x相同，则离子质量一定相同 D.只要x相同，则离子的比荷一定相同 质量为m，带电量为+q，经电压U加速后垂直进入磁感应强度为B的匀强磁场中，打至P点，设P=x，能正确反映x与U之间函数关系的x—U图图中的（ ） 【答案】AD （2）B【解析】试题分析：设离子加速后速度为v，则由动能定理，可得；进入磁场后做圆周运动的轨道半径.而x=2r，所以若离子束是同位素，则q相同，x越大，m越大，A对；若x相同则比荷一定相同，D对设离子加速后速度为v，则由动能定理，可得；进入磁场后做圆周运动的轨道半径，，故图象B正确，其余错误。点评：．如图所示是质谱仪工作原理的示意图．带电粒子a、b经电压U加速(在A点的初速度为零)后，进入磁感应强度为B的匀强磁场做匀速圆周运动，最后分别打在感光板S上的x1、x2处．图中半圆形的虚线分别表示带电粒子a、b所通过的路径，则(　　) A．a的质量一定大于b的质量 B．a的电荷量一定大于b的电荷量 C．在磁场中a运动的时间大于b运动的时间 D．a的比荷大于b的比荷 【答案】 D【解析】试题分析：设粒子经电场加速后的速度为v，由动能定理，有qU＝mv2，则粒子在磁场中做匀速圆周运动的半径R＝＝∝，由图知粒子a的轨迹半径小于粒子b的轨迹半径，故，＞选项D正确，A、B错误；粒子在磁场中的运动时间t＝＝，结合上式，有tatb，选项C错误．.如图所示是质谱仪的工作原理示意图．带电粒子被加速电场加速后，进入速度选择器．速度选择器内相互正交的匀强磁场和匀强电场的强度分别为B和E.平板S上有可让粒子通过的狭缝P和记录粒子位置的胶片A1A2．平板S下方有磁感应强度为B0的匀强磁场．下列表述正确的是(　　) A．质谱仪是分析同位素的重要工具 B．速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外 C．能通过狭缝P的带电粒子的速率等于E/B D．粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P，粒子的荷质比越小 【答案】ABC【解析】试题分析：质谱仪是测量带电粒子的质量和分析同位素的重要工具，A正确．速度选择器中电场力与洛伦兹力是一对平衡力，即qvB＝qE，故v＝.据左手定则可以确定，速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外，B、C正确．粒子在匀强磁场中运动的半径r＝，即粒子的荷质比＝，由此看出粒子运动的半径越小，粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P，粒子的荷质比越大，D错误．故选ABC..1922年英国物理学家阿斯顿因质谱仪的发明、同位素和质谱的研究荣获了诺贝尔化学奖．若速度相同的一束粒子由左端射入质谱仪后的运动轨迹如图所示，则下列相关说法中正确的是(　 　) A．该束带电粒子带负电 B．速度选择器的P1极板带正电 C．在B2磁场中运动半径越大的粒子，质量越大 D．在B2磁场中运动半径越大的粒子，比荷越小【答案】BD【解析】试题分析：由粒子在B2中的运动轨迹可以判断粒子应带正电，A项错误；在电容器粒子受到的洛伦兹力方向竖直向上，受到的电场力方向应竖直向下，则P1极板带正电，B项正确；在电容器中，根据速度选择器的原理可知v＝，在B2中粒子运动的轨道半径r＝，式中B1、B2、E不变，因此，在B2磁场中运动半径越大的粒子，其越大，即比荷越小，C项错误，D项正确．考点：　 ．如图所示，一束正离子从P处垂直射入匀强电场