5_晶体管特性示仪测三极管直流参数.docVIP

实验五 晶体管特性图示仪测量三极管的直流参数晶体管在电子技术方面具有广泛的应用。在制造晶体管和集成电路以及使用晶体管的过程中，都要检测其性能。晶体管输入、输出及传输特性普遍采用直接显示的方法来获得特性曲线，进而可测量各种直流参数。 一、实验目的1）了解YB4812型晶体管特性图示仪原理，掌握其使用方法；2）观察三极管的输出特性曲线；3）测试四种三极管的反向击穿电压和直流电流增益。 二、实验原理 利用晶体管特性图示仪测试晶体管输出特性曲线的原理如图1所示。图中T代表被测的晶体管，RB、EB构成基极偏流电路。取EBVBE可使IB=(EBVBE)/RB基本保持恒定。在晶体管C-E之间加入一锯齿波扫描电压，并引入一个小的取样电阻RC，这样加到示波器上X轴和Y轴的电压分别为VX=VCE = V CAIC? RC ≈VCA， VY=IC? RC ∞－IC 图5.1 测试输出特性曲线的原理电路 图2 基极阶梯电压与集电极扫描电压间关系当IB恒定时，在示波器的屏幕上可以看到一根IC—VCE的特性曲线，即晶体管共发射极输出特性曲线。为了显示一组在不同IB的特性曲线簇Ici=Φ(ICi, VCE)应该在X轴的锯齿波扫描电压每变化一个周期时，使IB也有一个相应的变化，所以应将图1中的EB改为能随X轴的锯齿波扫描电压变化的阶梯电压。每一个阶梯电压能为被测管的基极提