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A系列接触器电寿命检测试验台研发 【摘 要】对于接触器电寿命的检测，传统方案采用陪试品进行电路切换，用单片机技术或PLC技术控制进行数据采集。因此，对于大电流接触器（A750）电寿命检测（AC-3），很难找到合适的陪试品，并且陪试品接通和分断导致电路切换的时间很难控制，测试效率也不高，单片机技术和PLC技术采样频率不高导致得出的数据不够精确。新方案采用可控硅技术进行电路切换，测试效率高，实现了电路切换迅速、精确，IPC高频率的采样使得测试的波形和数据在人机界面清晰准确的显示。 【关键词】接触器；可控硅；工控机；电寿命检测 0.引言 在低压开关行业中，接触器主要用于远距离控制接通和分断频率不高的设备，为了保证接触器有可靠的接通和分断能力，所以对接触器质量的检测是必不可少的，其中包括电寿命的检测。接触器电寿命的检测就是在常温（高温）环境下对接触器进行通电（标称的额定电流），接触器触点通断正常所能达到的次数。根据JB2455-85“低压接触器”中规定了不同使用类别时验证交流接触器电寿命的试验条件，制定了本课题接触器电寿命检测系统的四种试验条件，如表一所示。 表1 不同使用类别验证电寿命的试验条件 在传统的接触器电寿命检测设备中，采用陪试品进行电路切换，这种方式存在很大的弊端。 （1）陪试品的触点是机械动作，因此触点在接通和断开的时候存在电弧问题，电弧的产生影响检测电流电压准确度。并且随着电腐蚀程度加大，电弧更大，燃弧时间更长，测量出的数据更不准确。 （2）对于大电流交流接触器的测试，传统方案要检测A750有两种方法：一种是找到额定电流为750AX6 4500A的接触器；另一种是用几个接触器并联，使并联的几个接触器总电流达到或大于4500A。第一种方法中的额定电流为4500A的接触器，ABB公司生产了一种额定电流为5000A拍合式接触器，这种接触器体积很大，价格也很高，造出来的检测设备成本会很高。第二种并联接触器的方法无法保证几个接触器触点同时接通和分断，所以第一个接通和最后一个分断的触点很容易烧坏，从而导致测试的中止。 单片机技术和PLC技术在数据采集方面采用循环扫描方式，所以当主电路出现问题而需要扫描的程序很多时，主电路不能及时的受到保护。单片机和PLC处理任务单一，运算速度慢，在复杂应用和大量数据处理方面不适应。 1.总体方案设计 根据对目前接触器电寿命测试台存在的缺陷的改进，图1为新方案的规划。调节负载的可调电阻，可调电容以及可调电感，使之适应AC-3类测试。外接电源通过变压器，把U变成1/6U。过控制部分，接通变压器下端的三个可控硅，同时测量相电压。待相电压正常，接通测试品K1的线圈测试100ms后，通过控制部分切断变压器下端的三个可控硅，同时接通右侧三个可控硅进行测试80ms，这样一次测试结束。在这个过程中，采集了3个相间电压，1个测试品两端的电压以及3个线电流。采集3个相电压数据主要考虑电压从U到1/6U切换电路造成短路，从而对变压器造成损坏。采集测试品两端的电压由两个作用，一是检测测试品触点是否完全接通和断开；二是为了计算测试品的功率因素。采集3个线电流数据也有两个功能，一是检测线电流是否符合理论计算结果，对电路起保护作用；二是为了计算功率因素。 图1 新方案的规划 2.新方案关键技术确定 2.1 测试效率 根据AC-3类测试要求，接通时间和断时间比为1：9。根据接触器电寿命检测要求，测试时间为100ms，所以分断时间为900ms。 传统方案采用陪试品，陪试品是触点接通和分断，接通和分断时间相对较长且时间难以控制，为了保护主回路，传统方案一般测试的测试品循环不超过3个。 采用可控硅代替陪试品，可控硅的切换时间相对于陪试品小得多，可以控制在5～20ms内。设循环测试n个测试品，所以测试时间为100n，分断时间为1000-100n，每两个测试品测试的时间间隔为（1000-100n）/（n-1），因为时间间隔至少要为可控硅切换时间的两倍，所以（1000-100n）/（n-1）≥40，即n 6或7，为了对主电路的保护，取n 6，因此大大提高了测试的效率。 2.2大电流接触器的测试 额定电流大的可控硅在市场上很普遍，台基岘峰品牌可控硅，有KK、KP、KA、KS、ZK和ZK系列，电流200A～5000A，电压400V～7000V。在通过电流方面完全满足检测要求，而且价格很实惠。所以不存在陪试品第一种方法的缺陷。而且可控硅是无触点的接通和断开，所以不会存在陪试品第二种方法中烧坏的情况。 2.3采集的波形处理和对主回路的保护 工控机数据采集是终端处理方式，所以检测到对主回路有危害的信号，可以快速的做出保护动作，避免主回路受到危害。同时工控机作为控制核心，人机界面可视性强，易于操作；设计平台多，程序语言多，可移植性好；可以实现联网，组态