显卡检验规范214.9.23.docVIP

变 更 履 历 文件版次 变更内容 生效日期 制作 A.0 第一次正式发行 2014.9.23 发行部门： ■工程部 ■品管部 ■PMC部 ■组装部 ■SMT部 □管理部 ■售后服务部 □财务部 ■总经理 审 核 批 准 制作 审核 批准 目的 为规范显卡外观在设计、生产、检验一般判定方法和依据，特制定统一的检验判定标准。 适应范围 适用于本公司显卡产品的设计、生产、外观及功能检验。 定义 抽样计划 依据MIL-STD-105E Level II标准，AQL Major:0. Minor:1.0进行抽样检验 送检数量 抽样数量 Maj=0.4、Min=.0 二级单次减量 二级单次正常 二级单次加严 Maj Min 2-25 3 5 全数检验 AC=0；RC=1 AC=0;RC=1 26-50 5 8 AC=0；RC=1 AC=0;RC=1 51-0 8 13 20 AC=0；RC=1 AC=0;RC=1 51-150 20 32 AC=0；RC=1 AC=1;RC=2