第9章直接探测和相干探测.docVIP

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  • 2017-06-08 发布于天津
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第9章直接探测和相干探测

第9章 直接探测和相干探测 9-1 各举一例说明:可以利用光学方法或电学方法提高直接探测系统的信噪比。 9-2 为什么说式(9-10)表示的信噪比是直接探测系统所能达到的最大信噪比极限?以光电子发射探测器为例,导出它在直接探测系统中只受信号光的散粒噪声限制(量子噪声限)下的信噪比表达式。 9-3 分别写出直接探测系统中仅受热噪声限制、散粒噪声限制、背景光散粒噪声限制和信号光散粒噪声限制下的噪声等效功率表达式。 9-4 光电探测系统的作用距离与灵敏度有什么关系?分别讨论主动和被动探测系统中怎样提高系统的作用距离? 9-5 图9-25给出了一种差动法透过率测量的原理图,其中τ0和τs分别为标准物质和被测物质的透过率,入射光通量为Φ0,S1和S2分别为两个探测器的灵敏度。试论述其工作过程,给出指示表的转角θ的表达式,并说明它与单通道测量相比有什么优点。 图9-25题9-5图 9-6* 如图9-26是一个测量低速转轴表面跳动的光电检测系统示意图。图中,振动针孔沿水平方向振动,AGC电路为自动增益控制电路。转轴表面无跳动时,相敏检波器输出信号为零;有跳动时,输出信号为周期性的正或负脉冲信号,且跳动越大信号幅度也越大,信号周期与转轴传动周期一致。 (1)试画出图中振动针孔调制器的工作特性 (2)说明该检测系统的工作原理。 图9-26 题9-6图 9-7 图9-27利用激光器谐振腔扫

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