对高反射率薄膜反射率的测量方法和系统设计概述.docVIP

对高反射率薄膜反射率的测量方法和系统设计 小组成员：陈杰 座机电话号码10001 吴佳杰座机电话号码100 尹明 座机电话号码1000 光学薄膜，是指在一块透明的平整玻璃基片或光滑金属表面，用物理或化学的方法涂敷的单层或多层透明介质薄膜。光照射在光学薄膜后，会产生透射，反射，吸收，散射等等性质变化。其中反射薄膜正是光学薄膜应用中相当重要的一面。 通过本学期物理光学的学习，我们小组对高反射薄膜的反射率测量产生了浓厚的兴趣。在查阅了相关的资料和论文之后，我们得到了一些成果。 我们在查阅资料的过程中发现，反射膜反射率的精确测定在当今光学工程中有着重大意义，对于提高镀膜工艺，改善激光陀螺的性能等等方面起着十分重要的作用。目前测量超高反射率的方法主要有两类：一类为单，多次反射法，这类方法的测量结果受光源稳定性很大，在其误差分析中主要考虑光源强度起伏的影响。根据检测光束在待测样品上的反射次数分为单次反射法，二次反射法和多次反射法。此类方法常用于精度要求不高的光学实验，提高测量精度的途径为改进光源的稳定性。而另一类更为普遍的测量方法则是以光学谐振腔为基础，如光延迟线的测量法，光腔衰减光谱方法及利用光学谐振腔的精细度测定的方法等等。该测量方法的精细度主要取决于对各种测量方法的误差分析，理论推导。 我们小组对与测量薄膜反射率提出了以下几种不成熟的想法，具体如下： 一、基于光腔衰减方法的改进实验装置