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1-13-1 Drop Test 1-13-2 Impact Drop Tests 1. 结构耐久测试I-跌落I 样品数量:5 台 测试周期:1 天 测试条件: HHP:1.5M, 大理石地面,6/12面,2个循环。 充电器:75CM,n面,1个循环。 1-13-3 Durableness 检查功能,RF, 外观 1-13-1 Drop Test 1-13-2 Impact Drop Tests 1. 结构耐久测试I-跌落II 样品数量:3 台 测试周期:1 天 测试条件: HHP:30cm, 木地面,6面,50 100 个循环。 充电器:30CM,n面,50个循环。 每10个循环进行功能检查 1-13-3 Durableness 1-13-1 Drop Test 1-13-2 Impact Drop Tests 1. 结构耐久测试I-跌落III 样品数量:6台 测试周期:3 天 测试条件: HHP:1M, 木地面上加Rubber,1面, CSP封装:600个循环。 非CSP封装:250个循环。 直板,4面;翻盖,3面 1-13-3 Durableness Mechanical Endurance Test Bending Repeating Flip/Slide Memory/ SIM Card Deformation of Terminal Parts Screw Test keying Hand Strap Antenna Strength Cover I/O, Earphone, etc I/O Connector Headset Earphone Jack 1. 结构耐久测试II 1,500 AC Adapter 3,000 Battery and cover 10,000 Antenna Strength 10,000次重复性测试/10应力测试 I/O Connector 2,500/10,000 SIM Card/Memory Card 10,000 Deformation of Terminal Parts 1,000 Cover I/O, Earphone, etc 15kg destroy Hand Strap 10 times with specific torque Screw Test 10,000 Headset 100,000/10,000 Flip/Slide AC Adapter Battery and cover 1. 结构耐久测试II 47.08N 4.8Kg.f , 20,000 Bending 100mm or 2/3L 100mm or 2/3L 50mm or 2/3L Mechanical Endurance Test Bending Repeating Flip/Slide Memory/ SIM Card Deformation of Terminal Parts Screw Test keying Hand Strap Antenna Strength Cover I/O, Earphone, etc I/O Connector Headset Earphone Jack AC Adapter Battery and cover 1. 结构耐久测试II Power on with battery and charger Test Condition 15,000 Others 60,000 Scroll 29.4N(3Kgf) Load 30,000 Game 120,000 End Times Test Key Mechanical Endurance Test Bending Repeating Flip/Slide Memory/ SIM Card Deformation of Terminal Parts Screw Test keying Hand Strap Antenna Strength Cover I/O, Earphone, etc I/O Connector Headset Earphone Jack AC Adapter Battery and cover * Let’s do our best! Product Reliability Testing Lab PRT Standard Introduction Mar. 20,2006 实验室具有行业权威的,科学完整的通信终端产品可靠性测试程序/标准。同时实验室保持了测试技术与手机技术的同步发展,并关注市场客户对于质量需求的变化,不断完善和开发测试系统,
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