EPLFU生产动化概要设计方案.docVIP

EPLFU生产自动化概要 部门 成都研发中心版本 V 作者 汪洪川 日期 201-07-23 Version Date Author Revision description Comment V0.1 2011-11-02 汪洪川 草稿 文档建立 2012-01-05 唐仕明 初稿 V0.3 2012-01-11 汪洪川 初稿 V0.4 2012-03-21 汪洪川 根据客户评审要求更改方案 增加了单片机程序下载说明； 增加了整机老化方案说明； 增加了校准通道插损和波动测试； 增加了前向检测通道增益和波动测试； 增加了温度的读取测试； 增加了1分8功分器的隔离度要求大于25dB； 增加了40dB衰减器的功率容量要求100W； 降低了接收增益测试时的输入信号功率为-40dBm; 调整了部分测试频点与客户的预设数据要求一致； 修改了整机带内波动测试带宽为40MHz; 将ACPR和效率测试的信号时隙比进行了统一； 将测试的指标先后进行了排序，先测接收项目，后测发射项目； 增加了预设数据的烧写。 V0.5 2012-03-27 汪洪川 根据北京评审意见更新方案 增加老化成功或失败的标志; 增加工厂定期检查线缆及负载的端口特性; 删除接收测试用的两个信号源,通过开关矩阵切换发射用的信号源实现接收测试; 在信号源与网络分析仪测试RX入口指标时,增加大功率环行器; 前/反向检测增益和波动使用矢网进测试; V0.6 2012-03-28 汪洪川 根据深圳评审意见更新方案 修改了发射增益测试频点； 修改了发射增益指标要求。 V0.7 2012-04-17 汪洪川 根据生产要求更改 将老化部分删除 将两个1分8功分器用开关矩阵替代 修改了IIP3的测试步骤 V1.0 2012-07-09 唐仕明 更新发射、接收平坦度指标要求 更新ACPR，效率测试方法 增加静态要求 增加功放3dB压缩点测试 增加EEprom写入功能检验要求 增加数字温度传感器检验要求 Table of content 1. 概述 5 1.1 文档目的 5 1.2 适用范围 5 2. 单片机程序下载 5 3. 功放静态搜索 6 4. 自动化测试 7 4.1 指标要求 7 4.2 仪表需求 8 4.3 EPLFU结构框图 9 4.4 自动化测试设计 10 4.4.1 自动化测试框图 10 4.4.2 自动化测试说明 11 4.4.3 矢网校准及线损校准说明 11 4.4.4 自动化测试模板配置 12 4.4.5 自动化测试步骤 14 4.5 噪声系数测试设计 20 5. EEPROM数据烧写及数字温度传感器验证 21 6. 功放操作规范 22 7. 参考文档 22 Figures 图1. 单片机程序烧录框图 5 图2. 功放静态搜索框图 6 图3. 功放结构框图 9 图4. 自动化测试框图 10 图5. 噪声系数测试框图 20 图6. EEPROM数据烧写框图 21 Tables 表1 EPLFU生产测试指标列表 7 表2 测试仪表需求 8 表3 测试仪器模板设置 12 概述 文档目的 此文档在于适用范围 该文档适用于普天8通道功放S2(含)之前的版本。 单片机在贴片前需要先将程序烧录进去，烧录连接框图如图1所示： 单片机程序烧录框图 建议可购买希尔特的烧录器5004GP，一次可同时烧录4片单片机程序，时间少于10秒。由于我们的单片机为SSOP封装，因此同时需要购买SSOP卡座才能进行程序烧录。烧录步骤如下： 将烧录器的软件通过光盘拷贝进计算机，并进行安装； 按照图1连接烧录平台； 将4片单片机芯片分别放入烧录器的卡座中； 通过计算机进行单片机程序下载； 下载完成后取出已烧录完成的单片机芯片，更换未烧录芯片； 重复步骤3~5。 功放静态搜索 由于功放管具有离散性，为保证功放性能的一致性，需要在装整机前对每个功放管进行静态搜索。 功放栅压Vgs是温度t（℃）和功放漏压VDD的函数： Vgs(VDD,t)=a0+a1*(t-t0)+a2*(t-t0)2+a3*(t-t0)3,t0为参考温度，默认t0=25℃ 对于每个固定的VDD，会有相应的一组系数与Vgs对应，其中a1,a2,a3由研发提供。 静态搜索是指：在某一固定VDD下，针对每个功放管，找出合适的a0，使功放性能基本保持一致。 框图如下： 功放静态搜索框图 步骤（4通道功放为例）： 驱动管（Driver）目标电流值I0_Driver=0.12 A，末级主管(Main)目标电流值I0_main=0.31 A，末级峰管(Peak)默认写入600； 设