半导体放电管检及测试方法.docVIP

半导体放电管检测要求及测试方法 1　本要求遵循的依据 1.1　YD/T940—1999《通信设备过电压保护用半导体管》 1.2　YD/T694—1999《总配线架》 1.3　GB/T2828.1—2003/ISO 2859—1：1999《计数抽样检验程序》 2　测试前准备及测试环境条件 2.1　对测试设备进行校验，检查是否正常，正常后才能使用。 2.2　在标准大气条件下进行试验 2.2.1　温度：15～35℃ 2.2.2　相对湿度：45％～75％ 2.2.3　大气压力：86～106Ｋpa 所有的电测量以及测量之后的恢复应在以下大气条件下进行： 温度：25±5℃ 相对湿度：45％～75％ 大气压力：86～106Ｋpa 在进行测量前应使半导体管温度与测量环境温度达到平衡，测量过程的环境温度应记录在试验报告中。 2.3　按GB/T2828.1—2003《计数抽样检验程序》的规定。按一定抽样正常方案，一般检查水平Ⅱ，抽取一定数量的样本。 3　检测要求和测试方法 3.1　外形检查 3.1.1　要求放电管两头封口平直无歪斜，外形整洁，无污染、腐蚀和其他多余物，封装无破损、裂纹、伤痕、引出线不短裂、不松动。 3.1.2　金属镀层不起皮、不脱离、不生锈、不变色。 3.1.3　外形尺寸公差符合SJ1782—81中4级公差，即公称尺寸＞3—6，其公差为±0.1，公称尺寸＞6—10，其中公差为±0.1