X射线光电子能谱汇总.pptVIP

X射线光电子能谱（ X-ray Photoelectron Spectroscopy , XPS) * 主要内容 基本概念 发展历史 XPS 原理及工作流程 XPS应用 XPS特点及实验方法 X荧光光谱(XRF)原理及应用 总结 * 基本概念 以X 射线为激发光源，通过检测由固体物质表面逸出的光电子能量、强度、角分布等来获取物质表面元素组成及化学环境等信息的一种技术。 X-ray: 原子外层电子从L层跃迁到K层产生的射线。 常见的X射线激发源有： Mg Ka1,2(1254ev），Al Ka1,2(1487ev），Cu，Ti。 * 电子结合能和化学位移 电子结合能(Eb)代表了原子中电子与核电荷(Z)之间的相互作用强度。 电子结合能：由光电过程的Einstein方程： hν=Eb+1/2mv2，求出 ：Eb= hν-Ek。 电子结合能是体系的初态原子有n个电子和终态原子有n-1个电子(离子)和一自由光电子间能量的简单差 Eb = E(n-1)–E(n) 如果原子的初态能量发生变化，例如，与其它原子化学成键，则此原子中的电子结合能Eb就会改变，Eb的变化ΔEb称为化学位移。 原子因所处化学环境不同而引起的内层电子结合能变化在谱图上表现为谱峰的位移这种现象称为化学位移。 * 电子结合能和化学位移举例 纯金属铝原子Al(零价) 其2p 轨道电子结合能为72.7eV 当它与氧化合成Al2O3后铝为正三价Al 这时2p轨道电子结合能为74.7eV 增大了2eV 硫随其形式氧化态从-2(Na2S)到+6(Na2SO4)价的价态升高S 1s轨道的结合能Eb增加近 8 eV 除少数元素(如Cu Ag等)内层电子结合能位移较小，在XPS谱图上不太明显外一般元素化学位移在XPS谱图上均有可分辨的谱峰。 * 举例 三氟醋酸乙酯中C1s轨道电子结合能位移.聚合物中碳C 1s 轨道电子结合能大小顺序 C?C C?O C=O O?C=O O?(C=O)?O 这与初态效应是一致的。由于随氧原子与碳原子成键数目的增加碳将变得更加正荷电导致C1s 结合能Eb 的增加. * 发展历史 1887年赫芝(Hertz)首先发现了光电效应 1905年爱因斯坦应用普朗克的能量量子化概念正确解释了此现象给出了这一过程的能量关系方程描述。1921年，诺贝尔物理奖。 XPS理论首先是由瑞典皇家科学院院士、乌普萨拉大学物理研究所所长 K·Siebahn 教授创立的。原名为化学分析电子能谱: ESCA(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)。1981年诺贝尔物理学奖。 1954年研制成世界上第一台双聚焦磁场式光电子能谱仪。 XPS是一种对固体表面进行定性、定量分析和结构鉴定的实用性很强的表面分析方法。 * 基本原理 X-ray 特征X-ray * 基本原理 Eb= hv-Ek-W E(b): 结合能（binding energy） hv: 光子能量 （photo energy） E(k): 电子动能 （kinetic energy of the electron） W: 仪器的功函数（spectrometer work function） 通过测量接收到的电子动能，就可以计算出元素的结合能。 * * * 主要应用 元素定性分析， 元素定量分折， 化合物结构鉴定。 * 定性分析 尽管X射线可穿透样品很深但只有样品近表面一薄层发射出的光电子可逃逸出来，电子的逃逸深度和非弹性散射自由程为同一数量级范围。 致密材料如金属的约1nm。 有机材料如聚合物的5nm。 灵敏性。 非结构破坏性。 使得XPS成为表面分析的极有力工具。 * 元素组成鉴别 给出表面元素组成，鉴别某特定元素的存在性。 方法：通过测定谱中不同元素内层光电子峰的结合能直接进行元素定性分析。1）全谱扫描(Survey scan)；2）窄谱扫描(Narrow scan or Detail scan) 主要依据是组成元素的光电子的特征能量值具唯一性。 * * 化学结构分析 光电子谱线化学位移(Photoelectron line chemical shifts and separations). XPS通过测定内层电子能级谱的化学位移，推知原子结合状态和电子分布状态。 一定元素的内层电子结合能会随原子的化学态(氧化态晶格位和分子环境等)发生变化(典型值可达几个eV)—即化学位移，这一化学位移的信息是元素状态分析与相关结构分析的主要依据。 除惰性气体元素与少数位移较小的元素外，大部分元素的单质态氧化态与还原态之间都有明显的化学位移，如C1s TiC(281.7