电子材料概念2.doc

结构材料----是以力学性能为基础，以制造受力构件所用材料，当然，结构材料对物理或化学性能也有一定的要求，如光泽、热导率、抗辐射、抗腐蚀、抗氧化等。 功能材料 用高速电子或短波长的X射线，将样品原子的内层电子激发，当外层电子向内层电子跃迁时，发出的射线称为 布喇格公式： 2dsinθ kλ d为晶面间距，衍射仪通过记录各衍射角θ的X射线强度，即可得到衍射谱，根据衍射峰可得到如下信息： 1 .通过测量衍射峰的位置2θ,可得到晶胞尺寸 点阵常数或晶面间距d ，晶胞形状，晶面取向。 2 .通过测量衍射峰强度，可计算出原子在晶胞中的位置。3 .根据峰的宽度,可得出微晶的尺寸和点阵应变的信息。 扫描电子显微镜（扫描电镜）有三种电子成像: 1.背散射电子成像2.二次电子成像3.俄歇电子成像 背散射：经200~ 300keV 加速后的入射电子束被样品中的原子核反弹回来（大 于90度）的一部分电子 卢瑟福散 射 , 从试样表面 0.1 ~ 1μm 深度内 反射出来.可研究样品内部的晶体 学特性。 背散射电子不仅用作形貌分析,而且可用来显示原子序数衬度 成分分析 。 二次电子成像：在入射电子作用下从样品中原子的外层击出的低能电子称为二次电子. 二次电子成像反映了试样表面形貌。二次电子的产额与原子序数之间没有明显的关系,故不能用来进行成分分析.在合适条件下，可得到电子通道花样，能给出表面层 小于5nm 晶体取向的信息 俄歇 Auger 效应：因某种原因使原子一个内层电子电离出去，于是内层产生一个空位，（一个电子填充此空位，同时发出X射线）；也可以一个电子填充此空位，同时另一个电子脱离原子发射出去，这种无辐射现象称为俄歇 Auger 效应。 俄歇电子带有表面原子化学态的信息，用俄歇电子成像不但可以观察表面的形貌，而且特别适用作表面层成分分析，这种仪器称为俄歇扫描电镜 扫描电镜的特点： 特点1：放大倍数为 10倍~30万倍；在形貌分析时常用 3千~1万倍，这时的分辨率为 10nm ； 特点210 倍时景深为 2mm，放大1万倍时景深为 1μm ，所以立体感很强；扫描电镜对样品的厚度无任何限制，所以普遍用来研究表面形貌。 扫描探针技术 SPT :是通过检测各点与探针间的遂穿电流或原子间的作用力,使探针与被分析的表面保持一定的距离（0.1~1nm），从而获得表面的信息。它是从扫描隧道显微镜的基础上发展起来的。 扫描隧道显微镜（STM）的工作原理：STM是利用导电表面与探针保持一定的距离（ 0.1~1nm ）时它们的电子波函数发生重叠，加一个小电压后，就会产生隧道电流。 当探针与表面间改变一个原子尺度（0.3nm左右），隧道电流可以改变1000倍，所以它对距离非常敏感，可以检测到1~2个原子层的深度的变化。 探针在表面进行扫描时使隧道电流保持恒定，这样，探针的位置就能直接反映出表面的原子排列。 扫描隧道显微镜的特点：① 具有原子级的分辨率，可分辨单个原子。②? 能得到真实空间表面的三维图像，可用于研究表面扩散等动态过程。③ 可以观察单个原子层的局部表面结构，而不是象电子显微镜那样反映体相或整个表面的平均精度。所以可直接观察表面缺陷、重构、吸附物的形态和位置。④ 可在真空、大气、水、溶液等环境中工作，可在常温下工作，操作过程对样品无损伤。 ⑤ 配合扫描隧道谱，可得到表面态密度，电子陷阱，表面势垒及能隙结构。 局限性： STM;不能提供样品化学成分的信息。 原子力显微镜（AFM）:利用针尖与样品之间的AFM的工作模式 如图20-27所示，当样品表面与探头的距离r小于r0时，此力为斥力；当该距离大于r0时，此力为引力。 分为两大类： 静态 静态模式是指悬壁不受 当AFM20-27中r r0区域，即排斥力的区域。 由于这时探针尖原子和样品表面之间的距离一般小于0.03μm，探头和样品表面原子的电子云发生部分重叠，静态工作模式可以用来测量和分析原子间的近程相互作用和电子态，当然，也可以用来测量表面形貌和结构。 当AFM以动态模式工作时，安装在悬壁上的压电陶瓷被高频电压驱 103μm的量级），所以动态模式是非接触模式。 通过改变振动频率，使悬壁的振动幅度受到调制，测量振动幅度的变化，就（动态模式）可获得有关相互作用力大小的信息。而测量振幅变化的方法，通常以光学的干涉原理为基础。 正电子----电子的反粒子。 正电子湮没----当正电子与电子靠近时，正电子与电子的全部质量转换为电磁辐射能，即转换为 γ 射线。 正电子湮没的三种形式 1、当正电子与原子的外层电子发生湮没时，且自旋方向反平行时，产生双 γ 辐射。产生几率最大。 2、当正电子与原子的外层电子发生湮没时，且自旋方向平行时，产生三 γ 辐射。发生的几率很小。 3、