XRD讲稿-6-Rietveld方法技术总结.pptVIP

峰形修正包括下列参数：13个原子坐标、7个各向同性温度因子、1个标度因子、1个零点参数、4个晶胞参数、1个不对称参数和3个半高宽参数。 在修正过程中，调整峰的位置及分析峰形与观察线形的拟合状况，上述参数一遍又一遍地变动，直至得到可靠性因子RF=0.046，RB=0.054，RWP=0.137。至此则全部完成了从头结构测定工作。 点线表示观察数据, 实线表示计算图形, 图形下面的短垂线表示可能的Bragg峰的位置, 最下面的差值图为观察数据与计算数据的差值 KCaPO4?H2O晶体最终Rietveld差值图 利用Rietveld方法进行定量相分析的基本公式： S: Rietveld标度因子, Z: 单位晶胞分子数, M: 分子量 V: 晶胞体积, Wp P 相的重量分数 利用Rietveld方法进行定量相分析的实例 通过Rietveld修正中求得的各相的标度因子及与各相对应的单位晶胞分子数Zp、克分子量Mp和单位晶胞体积Vp，可得到混合相中各相的重量比。 ZrO2是一种重要的结构陶瓷材料，又是一种用得最广泛的氧离子固体电解质。对于解决衍射图谱严重重叠的ZrO2中四方相和立方相的定量分析，Rietveld方法显得尤为重要。 到目前为止，TEM仍不失为研究ZrO2增韧机理的手段之一，然而，为进行ZrO2的定量相分析，最常用的工具仍然是X射线衍射方法。由于ZrO2中四方相与立方相的X射线衍射图谱严重重叠，以致用常规X射线衍射方法难以确定四方相的存在，给研究ZrO2的相变对力学和电学性能的影响造成了困难。 进行定量相分析的ZrO2是分别掺杂8mol%的MgO、CaO及Y2O3的ZrO2陶瓷。为简化起见，以MSZ，CSZ，YSZ分别代表MgO、CaO和Y2O3稳定的ZrO2。X射线衍射数据的收集在STOE STADI/P全自动粉末衍射仪（德国生产）上进行（室温22?C）。曲率半径为220mm的Ge单色器用来得到严格单色化的CuK?1辐射（?=1.5405981?）。衍射强度的收集采用透射模式。使用覆盖衍射角范围为4?的位置灵敏探测器（PSD）收集衍射强度。步长强度收集范围（2?）为20?-90?,步长间隔0.02?。为了减少强度测量的误差，PSD在收集数据时以0.2?为间隔移动，每步停留150s，即同一位置要测量20次（= 4.0/0.2），以其平均值作为该点的衍射强度。 ZrO2的结晶学数据 ? 立方 四方 单斜 空间群 Fm3m P42/nmc P21/c ? 单位晶胞* （?） ? a=5.0858 ? a=3.6055 c=5.1707 a=5.1505 b=5.2116 c=5.3173 ?=99.23? 单位晶胞分子数Z 4 2 4 ZMV** 64838 16593 69437 在2? 范围内的 独立衍射峰数 ? 8 ? 22 ? 127 * 单位晶胞数据取自C.J. Howard et al, Acta Cryst. B44 (1988)116。 ** M代表克分子量（g），V代表单位晶胞体积(?)3。 表4-5 Rietveld修正中的修正参数 ? ? 修正的参数个数 ? MSZ CSZ YSZ 结构参数 标度因子 3（c, t, m）** 2（c, m） 2（c, t） O原子的z坐标 1（四方） ? ? Zr原子坐标（x,y,z） O1原子坐标（x,y,z） O2原子坐标（x,y,z） 3(m) 3(m) 3(m) 3(m) ? Zr原子温度因子（B） O原子温度因子（B） 1 1 1 1 1 1 峰形参数 a b c ? 3(c, t, m) 1(m) 2(t, m) 1(m) 2(c, m) 1(m) 1(m) 1(m) 2(c, t) ? 1(t) U V W ? 2(c, t)) 2(c, t) 1 1 2(c, m) 1 1 1 零点参数 1 1 1 NA NB 1 1 1 1 A 1 1 1 背景参数 5 5 5 ? MSZ CSZ YSZ 结构参数修正数 9 13 4 峰形参数修正数 19 18 14 标度因子 c*: 0.00045(4) t: 0.0058(1) m: 0.00061(8) c: 0.00218(1) ? m: 0.00097(1) c: 0.00234 Zr温度因子（B） O温度因子（B） 0.47(4) 0.6(1) 0.58(4) 1.7(1) 0.62(4) 2.4(1) U V W 0.0 c:0.40(5), t, m:0.49(3) c: