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* * * * * * * * * * * * * * * * * * * * 数字图象相关迭代法 在相关搜索方法中，我们认为小子区做刚体平移。或者说我们通过搜索得到的是子区内各像素的平均位移。 但一般情况下相关子区不仅做刚体平动，而且有应变，应变的梯度一般也不为零（即有位移的二阶导数）。 因此若相关子区上某一象素点变形前坐标(x,y),则其变形后坐标为: 数字图象相关迭代法 式中引入决定相关子区变形后形状和位置的12个参数： : 相关子区中心点的位移－决定了相关子区的位 置 子区内的位移的一阶和二阶导数－决定了相关子区的形状 位移的一阶、二阶导数对子区变形的作用 在图象相关迭代中，我们选用相关系数的最小平方系数形式 C越小，两子区的相关度越好。问题转化为求使相关系数取最小值时的12个参数值。 数字图象相关迭代法 即解出下列偏微分方程组的根: 我们用Newton-Raphson迭代法求解此方程组。 数字图象相关迭代法 Newton-Raphson迭代法 Newton-Raphson迭代式: * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * 单光束散干涉: 2.提取散斑位移信息的逐点分析法： 衍射晕光强： 由统计分析可知衍射光晕为半径r0的圆，且 由于Yang’s 条纹总是关于中心对称出现的，故必须满足 才有Yang’s 条纹在衍射光晕中出现。联系上述，位移表达式有： 从而得出单光束散斑干涉的适用范围： 记录平面散斑的表观位移必须大于像平面主观散斑的横向大小;或换言之,试件平面物点的表观位移必须大于物平面主观散斑的横向大小.。 * 单光束散干涉: 2.提取散斑位移信息的逐点分析法： 表观位移大于散斑尺寸： 表观位移小于散斑尺寸： * 单光束散干涉: 2.提取散斑位移信息的逐点分析法： 假若某条亮Yang’s条纹中心线距衍射晕中心距离不大于r0，则认为该亮条纹落入衍射晕。 设有N条亮条纹落入衍射晕。 由于Yang’s 条纹总是关于中心对称出现，且总有一条（零阶）亮条纹过衍射晕中心，故N必为奇数，且 * 散斑计量术 实例： 散斑计量术 提取散斑位移信息的全场分析法 散斑计量术 提取散斑位移信息的全场分析法 分析： 全场条纹分析系统是相干成像系统。 对像平面上一点光强有贡献的只是物平面上相应的Airy斑内的点。 此Airy斑很小, 可看为准平移的。位移相等的Airy斑的集合构成一个准平移区。可以对此准平移区应用富里叶变换的平移定理。 由上，对应位移为 的准平移区的谱面光强分布为 散斑计量术 提取散斑位移信息的全场分析法 由上，对应准平移区的谱面光强分布为 位移满足： 的准平移区的衍射花样在 邻域内相干抵消，故对应 的像点成暗条纹。反之，满足 的准平移区在像平面形成亮条纹。 散斑计量术 提取散斑位移信息的全场分析法 谱面光晕光强： 与逐点分析类似，可得到： 上二式联立： 结论： 散斑照相全场分析条纹是试件表面点表观位移在滤波孔偏置方向分量的等值线。 选择不同滤波方向，可得到位移不同分量的等值线。 散斑照相全场分析条纹的灵敏度是可变的，滤波孔偏置距离越大灵敏度越高。 散斑照相全场分析条纹的最高灵敏度(最小可测位移)仍然是散斑横向尺寸。 散斑计量术 实例： 散斑计量术 实例： 散斑计量术 实例： 散斑计量术 （三）用散斑照相测量自由端受集中力的悬臂梁的面内位移分布。记录系统成像透镜和全场分析系统变换透镜的参数如下表。当滤波孔中心分别位于（15，0）mm和（0，12）mm 时得到全场条纹图如右之上、下图。照明激光波长0.6μm。求 1.试件A点水平方向位移是多少？ 2.试件A点垂直方向位移是多少？ 3.给出当用细光束垂直入射到记录底片A点做逐点分析时距底片30cm处的观察屏上得到的杨氏条纹的方位与间距 孔径（mm） 焦距（mm） 放大倍数 记录透镜 60 100 3 变换透镜 120 150 1 散斑计量术 试件A点水平方向位移 试件A点垂直方向位移 杨氏条纹方位：与水平方向夹角 像面位移大小 杨氏条纹间距： 0 1 2 -1 -2 0 -1 -2 -3 -4 散斑计量术 单光束散斑干涉（散斑照