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X射线系列实验 徐天昊/0519029 一、实验简介 调较测角器的零点。 测定LiF晶体的晶面间距。 用电离腔探测X射线。 测定X光在铝中的衰减系数，并验证Lambert定律。 研究X光在材料中的衰减系数与波长及材料的原子序数的关系。 检验Moseley’s Law。 Planck常数h的测定。 二、实验内容 调校测角器的零点 实验中会出现测角器的零位偏离很明显，有什么办法可以较快地调零？ 靶台偏离较大时，即使直射时信号也会很小，大概只能看到200/s左右的信号，此时可确定靶台偏离较大，需重新调节。 实验中若是探测器偏离较大时，可用如下办法较快的调零。 不放晶体，让X-ray直射sensor，调sensor 至信号最大值，此时大概为sensor的零点。 放NaCl晶体并将sensor转过14.4度，调target获得最大峰值，找到后用coupled模式回转7.2度，归零。 再进行细调，至最终零点。 二、实验内容 测量LiF晶体的晶面间距 由2dsinθ=kλ对实验中测得数据进行拟合有y=Bx，其中d=B=（0.229±0.0003)nm NaCl和LiF属于面心立方晶系，实验中测得的d 应为（0 0 1）方向上的a/2。 对于“3β”衍射，可根据测得d算出晶面间距为 d=λb/2sinθ=4sin60*d001 有可能为（1 1 1）方向的衍射 即可通过变化target和se