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IEEE ICES SC34和IEC TC106联合工作组会议总结报告.doc

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IEEE ICES SC34和IEC TC106联合工作组会议总结报告

IEEE ICES SC34和IEC TC106联合工作组会议总结报告一、会议概况 3 1.1、会议概况 3 1.2、与会对案 3 二、会议进展情况 4 2.1、会议讨论情况 4 2.3、会议的主要成果 4 三、各国对此次会议所作的贡献 5 四、热点技术业务问题/政策管制问题的进展情况 6 五、体会和建议 6 一、会议概况 1.1、会议概况 IEEE SC34和IEC TC106这两个标准组织的工作均包含制定移动通信设备电磁辐射的测量与计算标准;二者在内容和要求上既有相同之处,同时又存在巨大差异。为了避免重复工作,更重要的是为了尽可能实现国际标准的协调和统一,从2006年开始,这两个标准组织成立了联合工作组,其最终目标是共同制定移动通信设备的电磁辐射测量与计算的协调标准。 会议由意大利电信实验室组织,于2009年3月4日至6日在意大利都灵召开,参加会议的人员包括IEC各国家委员会的代表和IEEE标准组织的专家。会议主要参与国包括意大利、英国、法国、瑞士、中国、日本、美国、加拿大、芬兰、瑞典等。工业和信息化部电信研究院和中国移动的代表参加了此次会议。会议主要议题包括:IEC PT62209项目讨论、ICES TC34实验技术和计算技术讨论。 1.2、与会对案 参加此次会议的主要任务是提交并介绍文档:PT62209_TC34_Mar2009-Proposal on TD-SCDMA mobile phone SAR test method(Li Guoqing).doc,计划达到的效果是:(1)建议会议验证当前标准对中国的3G标准TD-SCDMA终端的适用性;(2)建议会议建立一个课题,专门研究TD-SCDMA终端的测试细节,并补充到标准中去。 二、会议进展情况 2.1、会议讨论情况 会议主要讨论了PT62209的维护工作、IEEE1528升级、IEEE1528.1/2/3/4的草案编写、SAR快速测量工作、手模型、计算模型等方面。本人主要关注TD-SCDMA终端的测试方法,目前该领域国际标准上几乎无人关注。 2.2 与会工作 通过讨论,会议同意将PT62209_TC34_Mar2009-Proposal on TD-SCDMA mobile phone SAR test method(Li Guoqing)列入到正式议程中,并预留出15分钟的时间进行介绍和讨论。会上对TD的测试情况作了介绍,并提出了两点提议。会后同法国supelec大学的一位代表进行了更多测试细节的探讨。 2.3、会议的主要成果 会上对TD的测试情况作了介绍,并提出了两点建议。经大家讨论和提问,使参会人员对中国TD-SCDMA的发展情况有了进一步的了解。比如有的代表不知道中国已经有了大规模商用的TD-SCDMA网络和手机,以为当前的进展还停留在原型机阶段;也不相信中国已经有了自己的芯片、解决方案和综测仪。经过会议讨论和投票,觉得TD-SCDMA手机SAR测试的研究可以继续做,但标准本身暂时不予以特殊考虑,除非有什么重大、特殊之处,也不同意专门成立work item来研究此课题。 三、各国对此次会议所作的贡献 1、Mathias Meier:Update on IEC-62209-II status 2、M. Douglas:Update on the IEEE-1528 activity 3、S. Gabriel:Summary of application where hand SAR evaluation is needed. 4、A. Christ:To present the final draft text on respond to the inquiries III–X sent from Venezuela 5、A. Mauro Francavilla, A. Schiavoni:Proposal draft text for Fast SAR contribution 6、L. Hamad T. Onishi:Update on results regarding fast SAR technique applying flat phantom. 7、G. Li:Proposal on TD-SCDMA mobile phone SAR test method. J. Keshvari:Possible implications of LTE on the SAR-values of mobile phones. 8、Benoit Derat A. Toropainen, N. Kuster:SAM concervativeness when including hand models during m

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