半导体二极管三极管来料检验规程.docVIP

电子元器件来料检验规程（一） 半导体晶体管部分 内容 本规程规定了本公司常用半导体二极管、三极管、达林顿晶体管、绝缘栅双极晶体管 （IGBT）来料检验的抽样方式、接收标准、检验测试方法和所用测试仪器等具体要求。 范围 本规程适用于本公司常用半导体二极管、三极管、达林顿晶体管、绝缘栅双极晶体管 （IGBT）来料检验和验收。 引用标准 GB2828.1-2003 计数抽样检验程序 第一部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划 GB2421 电工电子产品基本环境试验规程 总则 GB2423.22 电工电子产品基本环境试验规程 试验Cb：恒定湿热试验方法 GB2421 电工电子产品基本环境试验规程 试验N：温度变化试验方法 GB4798.1 ?电工电子产品应用环境条件 贮存 检验测试设备和测试方法 测试设备：DW4824型晶体管特性图示仪（或QT2型晶体管特性图示仪等） 测试大功率晶体管专用转接夹具、插座或装置 数字万用表、不锈钢镊子等应手工具 晶体管特性图示仪、数字万用必须经检定合格并且在计量检定的有效期内。 人员素质：能熟练操作使用晶体管特性图示仪进行各种半导体器件参数测试，工作态度严谨、细心，持有检验测试操作合格证或许可证。 测试准备： 晶体管特性图示仪每次开启，必须预热五分钟。检查确认图示仪的技术状态完好方能进行