數电实验手册-实验二门电路性能测试.docVIP

实验二 门电路参数测试 一、实验目的 熟悉TTL,CMOS与非门主要参数的含义，掌握其测试方法。 二、实验仪器与器材 仪器：逻辑箱、万用表、示波器、直流稳压电源。 器材：74LS20,CD4011 三、预习要求 参阅附录六，熟悉本次实验所用集成块的管脚图和真值表。 复习与非门主要参数的意义。 仔细阅读附录二。 四、实验内容与步骤：以下的测试记录表格请自己设计 TTL与非门主要参数的测试：选择74LS20 （1）输出高电平VOH VOH是指与非门一个以上的输入端接低电平或接地时，输出电压的大小。规定VOH≥2.4V合格。 如图2—1接好电路，然后接通电源，观察并记录此时的输出电压VOH。 （2）输出低电平VOL VOL是指与非门的所有输入端均接高电平时，输出电压的大小。规定VOH≤(0.4v)合格。 如图2—2接好电路，然后接通电源，观察并记录此时的输出电压VOL。输出空载，输出接有额定负载时，VOL有差别，可以自行测试。 （3）开门电平VON VON是指与非门输出端处于低电平状态时所允许的最小输入电压，换句话说，为了使与非门处于导通状态，输入电压必须大于VON，规定VON≤1.8v为合格。 如图2—3接好电路，然后接通电源，调整Ei（Ei为稳压电源输出电压，可调整，作为与非门的输入电压）由“0”升高，当VO下