数字实验一_TTL门电路的逻辑功能测试_实验报告.docVIP

学生实验报告 院别 电子信息学院 课程名称 电子技术实验 班级 电科13B 实验名称 实验一TTL门电路的逻辑功能测试 姓名 施俊伊 实验时间 2015年4 月8 日 学号 2013010202058 指导教师 文毅 报 告 内 容 一、实验目的和任务 1.测试TTL集成芯片中的与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。 2.了解测试的方法与测试的原理。 二、实验原理介绍 实验中用到的基本门电路的符号为： 在测试芯片逻辑功能时输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示输出的逻辑功能。 三、实验内容和数据记录 1.依次选用芯片74LS08、74LS32、74LS04、74LS00、74LS02、74LS86。 A B L 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 1 A B L 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 1 74LS08 74LS32 A B 0