4.4用光电子谱能带结构概述.ppt

* * 光电子谱是研究物质电子结构的重要手段，其实质是将一单色光入射到样品上，同时测量光发射电子的能量分布，与此获得样品内离子实芯能级上电子和价电子束缚能的信息。 1、用X射线作为光源，光电子能量 ，称为X射线光电子谱(XPS)，它能探测芯电子的束缚能，并作元素分析。另外芯电子的束缚能受“化学位移”的影响，而“化学位移”本身可给出原子化学态的信息。X射线源常采用Mg Kα发射和Al Kα发射。 2、入射光为紫外光， ，称为紫外光电子谱(UPS)，常用氦灯作为光源。 4.4 用光电子谱研究能带结构 如图(4.11)其中φ是晶体的功函数，这是真空能级和费米能级的能量差，是电子离开样品需要克服的表面能量势垒的高度，一般在2~5eV的量级。εB是电子的结合能，一般相对于费米能量计算，并取正值。 用已知能量为 的光束照射样品，可导致离子实中芯能级上及价带中电子的光发射。按能量守恒的原则，光电子的动能 由下式给出： 由于费米能εF以上的态，没有或很少电子占据，相应的光电子强度陡降，称为费米截止。 4.4.1 态密度分布曲线 因此，实验起码可以测量被电子占据部分的能带宽度，以及εF。还可以得到有