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- 2016-11-28 发布于湖北
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光照不均半导体或半导体与金属组合不同部位产生电位差。 机理多,存在阻挡层。 光伏器件I-V特性: 结区 p n + + + + + + + + + - - - - - - - - - E 光 I V 短路光I 开路光V 光I 反向饱和I 暗I §5-1 物质中的光吸收 §5-2 光探测的基本物理效应 §5-3 光辐射探测过程中的噪声 §5-4 光辐射的探测方法 ① 光电导效应 ② 光伏效应 1. 外光电效应(光电子发射) 2. 内光电效应(光电导效应与光伏效应) 一、光电效应 二、光热效应 工作:开路,短路,反偏(光电导),正偏。 §5-1 物质中的光吸收 §5-2 光探测的基本物理效应 §5-3 光辐射探测过程中的噪声 §5-4 光辐射的探测方法 ① 光电导效应 ② 光伏效应 1. 外光电效应(光电子发射) 2. 内光电效应(光电导效应与光伏效应) 一、光电效应 二、光热效应 光伏效应 载流子激发-光子 载流子分离-内建E 光I: Id暗I,Is无光照反向饱和I,V加器件V(正+,反-), k波耳兹曼常数,??1常数,T绝对T 另内光电效应。光照PN结出现。 无光照,结型半导体P和N区,空穴,电子浓度比结区大,浓度梯度使载流子扩展,N与P区积累空穴与电子,内建E,N?P 势垒eVD
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