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扫描隧道显微镜 Scanning Tunnel Microscope * * 扫描隧道显微镜（STM）的基本原理 工作原理：量子隧道效应 STM的工作原理 样品表面与探针的电子云图 * STM有两种工作方式 探针针尖扫描方式：恒流模式和恒高模式。扫描时，一般沿着平面坐标的X-Y两方向作二维扫描。 ① 恒流模式：用电子反馈线路来控制隧道电流I大小不变，于是，探针针尖就会随样品表面的高低起伏运动，从而反映出样品表面的高度信息。可见，用扫描隧道显微镜获得的是样品表面的三维立体信息。 STM恒流模式 恒流模式：获取图象信息全面，显微图象质量高，应用广泛。 可用于观察表面形貌起伏较大的样品；显示导电材料表面的原子排列情况。 * STM有两种工作方式 ② 恒高模式： 若控制针尖在样品表面上扫描，且保持针尖的绝对高度不变；则随着样品表面原子(分子)构成呈凸凹不平状的高低起伏，隧道电流不断变化，将其转换成图像信号显示出来，可得到样品表面的STM显微图像。 恒高度模式 恒高模式： 扫描速度快，但仅适用于样品表面较平坦（起伏1nm）、且组成成分单一(如由同种原子组成)的情形。 * STM的特点 STM的特点： ① 结构简单、具有原子级的分辨本领，其横向分辨率达0.1nm，在与样品垂直的Z方向，其分辨率高达0.01nm，即可分辨出单个原子 。 ② 可在真空、大气或液体环境下，在实空间内进行原位动态观察样品表面的原子组态的三维图像； ③ 可直接用于观察样品表面发生的物理或化学反应的动态过程及反应中原子的迁移过程等。 ④ 利用STM针尖，可对原子和分子进行操纵。 ⑤ 可观察单个原子层的局部表面结构，而不是整个表面的平均性质。故可直接观察表面缺陷、表面重构、表面吸附体的形态和位置等。 STM的缺点： ① 探针扫描速度有限，测量效率较其他显微技术低 ② 不能做到像电子显微镜大范围连续变焦 ③ STM对样品表面的粗糙度有较高的要求 ④ 定位和寻找特征结构比较困难 * * STM的应用－观察单个原子层局部表面结构 STM观察到的 硅表面7×7重构图 吸附在铂表面的碘原子 3×3阵列图，其上的一 个缺陷也看得非常清楚。 * 原子的排列图 砷化镓表面砷原子的排列图 硅表面硅原子的排列 单个氙原子 (尺度为0.1纳米) 已被排列成了一列 * 对原子和分子进行操纵 1990年，IBM公司两位科学家用STM针尖移动吸附在金属镍表面上的氙原子，得到了如图所示的形状。他们经过22小时的操作，把35个氙原子排成了IBM字样。这几个字母高度约是一般印刷用字母的二百万分之一，原子间间距只有1.3nm左右。这是人类有目的、有规律地移动和排布单个原子的开始。 * 1991年，IBM公司“拼字”科研小组用STM针尖移动吸附在金属表面的一氧化碳分子，拼成一个大脑袋小人的形象。 图中每个白团是单个一氧化碳分子竖在Pt表面上的图象，顶端为氧分子，各个分子的间距约0.5nm。 这个分子人从头到脚只有5nm高，堪称世界上最小的人形图案。 * 1993年，美国科学家成功地进行了移动铁原子的实验。在4K 低温条件下，用STM针尖将48个铁原子排列成了一个称之为量子围栏的圆环，最近的铁原子相距0.9nm。 可见，Fe原子吸附在Cu表面，该环中铜表面电子只能在其围栏内运动，圈内的圆形波纹就是这些电子的波动图景形成驻波。这是世界上首次观察到的电子驻波直观图形。 原子力显微镜 Atomic Force Microscope * * 原子力显微镜（AFM） 扫描隧道显微镜（STM）不能测量绝缘体表面的形貌。 1986年G.Binnig提出原子力显微镜（AFM）的概念，其目的是为了使非导体也可采用进行观测。 AFM与STM最大的差别：在于它并非利用电子隧道效应，而是利用原子间的范德华力（Van Der Waals Force）作用来呈现样品的表面特性。 AFM：不但可测量绝缘体表面形貌，达到接近原子分辨，还可测量表面原子间的力，测量表面的弹性、塑性、硬度、粘着力、摩擦力等性质。 * 原子力显微镜（AFM）原理 设两个原子中，一个是在悬臂（cantilever）的探针尖端，另一个是在样品的表面，它们之间作用力会随距离的改变而变化，其作用力与距离的关系，如图所示。 当原子与原子很接近时，彼此电子云斥力大于原子核与电子云之间的吸引力，故整个合力表现为斥力的作用； * 反之，若两原子分开有一定距离时，其电子云斥力的作用小于彼此原子核与电子云之间的吸引力作用，故整个合力表现为引力的作用。 LaSrMnO3 的表面形貌 * （a）LSMO薄膜二维形貌图 （b）LSMO薄膜三维形貌 * LaSrMnO3 的表面形貌 * 磁场B对质量为m的电子偏转的向心力即为洛仑磁