双棱镜法测光波波长的方法探究.doc

双棱镜干涉法测光波波长的方法探究 13级物理师范 黄传帅 引言： 　 前不久，在张老师的指导下我做了双棱镜干涉实验，测得了光的波长。回去自己思考后并查阅相关文献，获知双棱镜干涉法测光波波长的方法不仅仅局限于一种，而且每种方法都有它的优缺点。因此通过探究双棱镜法测光波波长的方法，并分析它们的原理及其不足之处，可以提高物理系的本科生的科研能力和科学素养及其分析问题的能力，也可以丰富该实验在教学中的应用，增强学生对光的干涉的理解。双棱镜干涉测光波波长实验是光学实验中一个基本的又是带有典型的实验,它可作为综合性或设计性实验,整个实验过程动手能力是一个很好锻炼和提高;通过数据处理和误差分析能对培养科学素质和科研能力以及分析问题和解决问题的能力起到很好的促进作用。 二次成像法 实验原理 如果两种频率相同的光波沿着几乎相同的方向传播，并且它们的相位比随时间的变化而变化，那么在两列光波相交的区域，光波分布是不均匀的，而且是在某些区域表现为加强，在某些地方表现为减弱（甚至可能为零），这种表现称为光的干涉。 在菲涅尔1818年设计的双棱镜干涉实验中，杨氏干涉实验中的双狭缝被一个双棱镜取代。光源S发出的光经双棱镜折射而形成两束光，可视为分别从虚光源S1、S2发出。在两光束相交的区域放置观察屏，在P1、P2区间就可以观察到干涉条纹。虚光源等效于双狭缝 形成了光波的分波面干涉。 设 代表两虚光源和 间的距离，D 为虚光源所在的平面（近似的在光源狭缝S的平面内）至观察屏P的距离，且干涉条纹宽度为.则实验所用光波波长 可由下式表示：上式表明，只要测出,d和 ，就可算出光波波长。这是一种光波波长的绝对测量方法，通过使用简单的米尺和测微目镜，进行毫米量级的长度测量，便可推算出微米量级的光波波长。 (2)实验步骤 1、调节共轴 （1）将单色光源M（氦氖激光器）、会聚透镜L、狭缝S、双棱镜AB与测微目镜P，按下图图所示次序放置在光具座上，用目视粗略的调整它们中心等高、共轴，并使双棱镜的底面与系统的光轴垂直，棱脊和狭缝的取向大体平行。 启动氦氖激光器，用手持一白屏在双棱镜后面检查，根据观察到的现象做出判断，再进行必要的调节。 2、调节干涉条纹 （1）减小狭缝宽度（以提高光源的空间相干性），绕系统光轴缓慢地向左或右旋转双棱镜AB, 当双棱镜的棱脊与狭缝的取向严格平行时,一般情况下可从测微目镜观察到不太清晰的干涉条纹。 （2）在看到清晰的干涉条纹后,为便于测量，在看到清晰的干涉条纹后，应将双棱镜后测微目镜前后移动，使干涉条纹的宽度适当。同时只要不影响条纹的清晰度，可适当增加缝宽，以保持干涉条纹有足够的亮度。双棱镜和狭缝的距离不宜过小，因为减小它们的距离、间距也将减小，这对的测量不利。 3、测量与计算 （1）用测微目镜测量干涉条纹的宽度。为了提高测量精度，可测出n条（10—20条）干涉条纹的间距，再除以n，即得。测量时，先使目镜叉丝对准某亮纹的中心，然后旋转测微螺旋，使叉丝移过n个条纹，读出两次读数。重复测量几次，求出。 用光具座支架中心间距测量狭缝到测微目镜叉丝平面的距离d，只需测一次，但由于狭缝平面与其支架中心不重合,且测微目镜的划分扳(叉丝)平面也与其支架中心不重合,所以必须进行修正,以免导致测量结果的系统误差。 （2）用透镜两次成像法测两虚光源的间距。保持狭缝与双棱镜原来的位置不变在双棱镜和测微目镜之间放置已知焦距为的会聚透镜，移动测微目镜使它到狭缝的距离大于，然后维持恒定，沿光具座前后移动透镜就可以在不同的位置上从测微目镜中看到两虚光源、经透镜所成的实像，其中一组是放大的实像，另一组是缩小的实像，分别测得两次清晰成像时实像的间距和。各测3次，取其平均值，再计算平均值。 用所测得的、、值代入公式求出光源的光波波长。 （3）不足之处 这种测量方法原理清楚明确在理论讲解时,非常容易为学生所理解,但在具体的实验操作中常常出现以下问题影响我们顺利完成实验。 从上图可以看出，两虚相干光源以及狭缝光源不在同一个平面上. 但二次成像法在进行实验计算时仍然简单地用来代替了两虚相干光源到测微目镜间的距离，这是二次成像法形成系统误差的一个重要原因，导致测得的波长值不是很精确。 用二次成像法测两相干光源的间距时常常出现找不到放大实像的情况.一般情况下只要能够保证两虚相干光源到测微目镜之间的距离大于透镜焦距 f 的四倍.且透镜放置在双棱镜后面两个不同的位置. 则两虚相干光源经透镜会出现两次成实像的情形.但是在两虚相干光源经透镜形成一放大实像时 ,如果透镜的位置在两虚相干光源和双棱镜之间,此时,实验者在双棱镜后移动透镜则只能出现缩小实像而找不到放大实像,从而导致实验无法继续. 由于两虚相干光源的间距是毫米级的数量值,因此,在用