第05讲_第3JTAG技术 65页.pptVIP

2008年3月14日 南京大学计算机系 《嵌入式系统原理与开发》 第5讲 南京大学计算机系 俞建新主讲 第3章 嵌入式微处理器技术基础 本章主要介绍以下内容： 嵌入式微处理器典型技术 主流嵌入式微处理器 嵌入式处理器的调试技术 边界扫描测试技术JTAG 3.4 边界扫描测试接口JTAG JTAG是一种片上调试接口，即OCD接口。 OCD英文原文： On-Chip Debugging Interface JTAG的建立使得集成电路固定在PCB（Printed Circuit Board，印刷电路板）上，只通过边界扫描便可以被测试。 含有JTAG口的芯片种类较多，如CPU、DSP、CPLD/FPGA等，广泛得到应用。 3.4.1 测试摩尔定律 1999年英特尔公司的副总裁Patrick Celsinger先生在美国大西洋城举行的国际测试会议上提出了测试摩尔定律，并就此了讲演。 该定律预测未来几年，每一晶体管的硅投资成本将低于其测试成本。 Patrick Celsinger先生指出，硅成本已迅速下降，测试成本却基本保持不变。并且，被测器件的速度常常比测试设备能测的速度高。也就是说，测试设备的发展速度已跟不上测试对象的发展。同时，测试成本在制造成本中所占比例过大。 3.4.2 JTAG基本概念 JTAG是Joint Test Action Group（联合测试行动组）的缩写