第二章 位错理论 一、晶体中的缺陷 晶体结构特点是长程有序。 构成物体的原子、离子或分子等完全按照空间点阵规则排列的,将此晶体称为理想晶体。 在实际晶体中,原子的排列不可能这样规则和完整,而是或多或少地存在着偏离理想结构的区域,出现了不完整性。 通常把实际晶体中偏离理想点阵结构的区域称为晶体缺陷。 根据几何形态特征,可把晶体缺陷分为三类: (1)点缺陷 、(2)线缺陷、(3) 面缺陷 (1)点缺陷:特征是在三维空间的各个方向上的尺寸都很小,亦称为零维缺陷。如空位、间隙原子等。 (2)线缺陷:特征是在两个方向上的尺寸很小,在一个方向上的尺寸较大,亦称为一维缺陷。如晶体中的各类位错。 (3) 面缺陷:特征是在一个方向上的尺寸很小,在另外两个方向上的尺寸较大,亦称二维缺陷。如晶界、相界、层错、晶体表面等。 研究晶体缺陷的意义: (1)晶体中缺陷的分布与运动,对晶体的某些性能(如金属的屈服强度、半导体的电阻率等)有很大的影响。 (2)晶体缺陷在晶体的塑性和强度、扩散以及其它结构敏感性的问题上往往起主要作用,而晶体的完整部分反而处于次要地位。 因此,研究晶体缺陷,了解晶体缺陷的基本性质,具有重要的理论与实际意义。 二、点缺陷(point defect ): 晶体中的点缺陷:包括空位、间隙原子和溶质原子,以及由它们组成的尺寸很小的复合体(如空位对或空位片等)。 点
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