RFID第7章实际环境下系统性能的测试与分析.pptx

系统设计第四篇 射频识别技术原理、协议及系统设计第六章 射频识别技术实际环境下系统性能的测试与分析原理、协议及系统设计本章内容7.1 实际系统中的标签识别算法7.7 影响标签识别时间的因素7.2 发射功率对系统性能的影响7.8 问题与启发7.3 天线辐射角度对系统性能的影响7.9 小结7.4 距离对系统性能的影响7.5 标签部署密度对系统性能的影响7.6 调整设备位置对系统性能的影响7.1 实际系统中的标签识别算法Q算法模型实际RFID系统如何调整帧长Alien 9640标签Alien-9900+阅读器Alien-9611天线7.1 实际系统中的标签识别算法标签个数为1时Q算法的帧长变化过程1）启动识别过程：阅读器在开始识别过程之前，会先发送一个时隙（即Q=0）用来检测当前识别范围内是否存在标签。减少时间浪费2）结束识别过程：在实际的RFID系统中，如果只有一个标签或者没有标签，则阅读器可以在该时隙中完成识别（或检测），随后有15个时隙用来确认识别过程是否结束，只有当这15个时隙均为空时隙，阅读器结束该帧；如果识别区域中超过一个标签，阅读器将会进入下一帧的识别。厂商设置7.1 实际系统中的标签识别算法标签个数为1时Q算法的帧长变化过程7.1实际系统中的标签识别算法标签个数为25时Q算法的帧长变化过程1）Q的初始值设定：Q算法中Q的初始值是3，不同于EPC C1G2标准中默认的Q=4。厂商设置2）启动下一帧的方式：在是系统的RFID系统的识别过程中，当前帧的冲突时隙太多时，说明未识别标签较多，阅读器将会在下一帧中选用一个更大的帧长。简化算法执行的逻辑7.1实际系统中的标签识别算法标签个数为25时Q算法的帧长变化过程7.1 实际系统中的标签识别算法标签个数为25时Q算法的具体识别过程未识别标签数Q值帧长当前帧识别标签数已识别标签总数25Q=381124Q=416101114Q=384196Q=382214Q=242232Q=240232Q=122250Q=120257.2 发射功率对系统性能的影响发射功率对识别范围的影响整体识别范围7.2 发射功率对系统性能的影响发射功率对识别范围的影响一行的识别宽度7.2 发射功率对系统性能的影响发射功率对识别范围的影响发射功率增大时，整体的是被范围增大，但是新识别的标签不一定位于新增加的识别区域中，可能位于之前的识别区域中。7.2 发射功率对系统性能的影响发射功率对单个标签的影响发射功率对系统性能的影响7.2 发射功率对系统性能的影响发射功率对单个标签的影响对于某一个标签而言，一旦它能够获得足够的能量，被成功识别后，继续增加阅读器的能量，它一直都能够被成功识别。如果需要识别尽可能多的标签，需要采用大的发射功率，功率小的时候能够识别的标签在功率增大时也一定能够被成功识别。因而，功率越大，识别的标签数目越多。但是，处于识别范围内的标签由于受到路径损耗、多径效应、信号干扰等因素的影响，也未必能够100%被识别。7.3 天线辐射角度对系统性能的影响标签位置不变，改变天线角度天线位置不变，改变标签角度7.3.1 标签位置不变, 改变天线角度辐射方向与标签平面的夹角对识别性能的影响7.3.1 标签位置不变, 改变天线角度对于一个特定的标签而言，当辐射角度较小时（辐射方向与标签接近平行状态），到达标签的能量较小，若要激活标签，则要增加阅读器的发射功率；当辐射角度较大时（辐射方向与标签接近正交状态），所需要的阅读器发射功率较小对于一定数目的标签而言，天线的辐射角度越小，能够识别的标签数目越小。当辐射角度增大是，能够识别的标签数目增大7.3.2 天线位置不变, 改变标签角度当标签平面与天线的中心辐射方向垂直时，识别性能最佳，阅读器识别标签所需的发射功率最小。当标签绕自身的短轴旋转时，识别性能几乎不受影响当标签绕自身的短轴旋转时，对识别性能影响较大当标签平面与天线中心辐射方向趋近平行时，识别性能最差7.3 天线辐射角度对系统性能的影响天线的中心辐射方向与标签平面垂直调节天线正对着被识别的标签提高识别性能7.4 距离对系统性能的影响距离对系统性能的影响7.4 距离对系统性能的影响距离对系统性能的影响为了提升标签的识别率，我们应该尽量减小天线与标签之间的距离。同时，识别率难以到达100%，RFID还可以采取一些额外的措施来提升识别率。比如，改变天线的位置（减弱多径效应的影响）再次读取标签等。7.5 标签部署密度对系统性能的影响标签部署密度对识别性能的影响7.5 标签部署密度对系统性能的影响标签部署密度对系统性能的影响在实际环境中，阅读器的有效识别范围受到标签部署密度的影响，我们不能采用理论上的天线辐射模型来计算有效识别区域。如果标签部署密度较大，使得阅读器的有效识别区域变小，我们可以通过增大阅读