(c)蒸镀导电膜 对不导电的试样,例如陶瓷、玻璃、有机物等,在电子探针的图像观察、成分分析时,会产生放电、电子束漂移、表面热损伤等现象。使分析点无法定位、图像无法聚焦。大电子束流时,例如10-6A,有些试样电子束轰击点会产生起泡、熔融。为了使试样表面具有导电性,必须在试样表面蒸镀一层金或者碳等导电膜,镀膜后应马上分析,避免表面污染和导电膜脱落。 一般形貌观察时,蒸镀小于10nm厚的金导电膜。金导电膜具有导电性好、二次电子发射率高、在空气中不氧化、熔点低,膜厚易控制等优点,可以拍摄到质量好的照片。 (c)蒸镀导电膜 成分定性、定量分析,必须蒸镀碳导电膜。碳为超轻元素,对所分析元素的X 射线吸收小,对定量分析结果影响小。蒸镀碳只能用真空镀膜仪。镀膜要均匀,厚度控制在20nm左右,为了保证试样与标样镀膜厚度相同,标样和试样应该同时蒸镀。 (c)蒸镀导电膜 电子探针分析的基本原理 1、定性分析的基本原理 2、定量分析的基本原理 电子探针除了用电子与试样相互作用产生的二次电子、背散射电子进行形貌观察外,主要是利用波谱或能谱,测量入射电子与试样相互作用产生的特征X 射线波长与强度,从而对试样中元素进行定性、定量分析。 式中,ν为元素的特征X 射线频率, Z为原子序数, K与σ均为常数,
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