U盘成品检验标准精选.docVIP

1、目的: 确保U盘成品功能、外观、包装能满足规定要求,防止不合格品出货和使用。 2、范围：适用于本公司U盘成品的检验。 3、引用标准：MIL-STD-105E中《品质抽样检验标准》等同国标GB/T2828.1-2003. 4、抽样方案：MIL-STD-105E正常检查一次抽样方案II级水准，MA=0.65，MI=1.0 注：1、本标准中特殊检验项目（HDBench测试、电流测试、跌落试验、插拔试验、系统兼容性测试）按N=10 抽取样本数AC=0( 0收1退)；其余项目按AQL抽样水准执行。 2、本标准中有具体数值的项目，报表中数据只需记录1-10片（数据相同的只记1片），如有不良，则优先记录不良数据。 5、定义： 5.1、A面: 除主机侧面的正反面称为A面。 5.2、B面: 主机的侧面及在非直视角度下可以看见的表面. 5.3、CR（Critical）:致命缺陷，对环境或对人体产生危害或具有危害的隐患，违反相关安全规定之缺陷。 5.4、MAJ（Major）:主要缺陷，指影响产品功能，导致不能正常工作或是严重的外观不良，对环境或对人体没有危害或隐患。 5.5、MIN（Minor）:次要缺陷，对产品功能有部分影响能够正常工作，外观存在不良，对环境或对人体没有危害或隐患 6、检验环境： 6.1、温度: 15～30℃, 湿度45～95％； 6.2、检验场所灯光：300～50