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第四章 原子吸收分光光度法 概述 原子吸收分光光度法基本原理 原子吸收分光光度计结构 定量分析方法及方法评价 原子吸收分光光度法中的干扰及抑制 在标准曲线的直线范围内，应用仪器上的标尺扩展或数字直读装置进行测量。 方法实质是标准曲线法，但标准曲线的绘制由仪器完成 。 此文档由 （您的第三方检测信息专家）提供。 若想获得更多资料，敬请访问。 3.4 原子吸收的干扰及抑制 四、背景干扰 背景干扰是指原子化过程中产生的光谱干扰。 1. 分子吸收与光散射 分子吸收：在原子化过程中生成的分子对辐射 的吸收。 光 散 射：原子化过程中产生的微小的固体颗粒 使光发生散射，造成透射光减弱，吸 收值增加，结果偏高。 3.4 原子吸收的干扰及抑制 2. 背景吸收校正方法 有仪器调零吸收法、邻近线校正背景法、连续光源(氘灯)校正背景法、塞曼(Zeeman)效应校正背景法等。 1)连续光源校正背景法 旋转斩光器交替使连续光源（氘灯）和共振线通过火焰进入检测器。 当共振线通过火焰时：吸光度是基态原子和背景吸收的总吸光度。 3.4 原子吸收的干扰及抑制 两次测定差值是待测元素的真实吸光度。 当氘灯通过火焰时：吸光度是背景吸收（基态原子吸收忽略不计）。 2)塞曼效应