第三节 原吸收光谱的分析方法.pptVIP

一、光谱干扰 二、物理干扰 三、化学干扰 2.化学干扰的抑制 定量分析方法 2.标准加入法 2.检出极限 二、应用 * 第三节 原子吸收光谱的分析方法 干扰及其抑制 分析条件的选择 定量分析方法 方法评价 元素的共振线与干扰物质谱线分离不完全，这类干扰主要来自光源和原子化装置，主要有以下几种： 1）. 谱线重叠干扰：由于光源发射锐线，因此，谱线重叠干扰较少；如发生重叠干扰，则要求仪器可分辨两条波长相差0.1?的谱线。 消除：另选分析线。如V线（3082.11?）对Al 线（3082.15 ?）的干扰；多谱线的元素产生的谱线之间的干扰等。 2）. 非吸收线干扰：来自被测元素自身的其它谱线或光源中杂质的谱线。 消除：减小狭缝和灯电流或另选分析线。 3）. 火焰的直流发射：火焰的连续背景发射，可通过光源调制消除。 1. 谱线干扰和抑制 干扰及其抑制 2. 背景干扰 来自燃烧气的背景干扰 宽带吸收：火焰生成物的分子受激产生的宽带光谱对入射光 的吸收； 粒子散射：火焰中固体粒子对光的散射 来自样品基体的背景干扰 宽带吸收：样品基体中分子或其碎片的形成、有机溶剂分子 或其碎片对光 的吸收，如CaOH分子宽带对Ba线 的干扰。 粒子散射：一些高浓度的元素，如Ti，Zr，W的氧化物，它 们的氧化物具有分馏效应且直径较大，可对光产 生散射；有机溶剂的不完全 燃烧产生的微粒碳也 会对光产生散射。 来源：试样粘度、表面张力使其进入火焰的速度或喷雾效率改变引起的干扰。 消除：可通过配制与试样具有相似组成的标准溶液或标准加入法来克服。 指待测元素与其它组分之间的化学作用所引起的干扰效应。主要影响到待测元素的原子化效率，是主要干扰源。 1. 化学干扰的类型 （1）待测元素与其共存物质作用生成难挥发的化合物，致使参与吸收的基态原子减少。 例：a、钴、硅、硼、钛、铍在火焰中易生成难熔化合物 b、硫酸盐、硅酸盐与铝生成难挥发物。 （2）待测离子发生电离反应，生成离子，不产生吸收，总吸收强度减弱，电离电位≤6eV的元素易发生电离，火焰温度越高，干扰越严重，（如碱及碱土元素）。 通过在标准溶液和试液中加入某种光谱化学缓冲剂来抑制或减少化学干扰： （1）提高火焰温度 （2）释放剂—优先与干扰离子反应。 与干扰元素生成更稳定化合物使待测元素释放出来。 例：锶和镧可有效消除磷酸根对钙的干扰。 （3）保护剂—生成稳定易挥发物。 与待测元素形成稳定的络合物，防止干扰物 质与其作用。例：加入EDTA生成EDTA-Ca，避免磷酸根与钙作用。 4）加入缓冲剂或基体改进剂：例如加入EDTA可使Cd的原子化温度降低。 5）化学分离：溶剂萃取、离子交换、沉淀分离等 三、电离干扰 来源：高温导致原子电离，从而使基态原子数减少，吸光度下降。 消除：加入消电离剂 （比被测元素有更低的电离电位，主要为碱金属元素化合物），从而抑制待测原子的电离。如大量KCl的加入可抑制Ba的电离， (1) 分析线 通常选共振线（最灵敏线或且大多为最后线），但不是绝对的。如Hg185nm比Hg254nm灵敏50倍，但前者处于真空紫外区，大气和火焰均对其产生吸收；共振线Ni232nm附近231.98和232.12nm的原子线和231.6nm的离子线，不能将其分开，可选取341.48nm作分析线。此外当待测原子浓度较高时，为避免过度稀释和向试样中引入杂质，可选取次灵敏线！ 一般选待测元素的共振线作为分析线，测量高浓度时，也可选次灵敏线 （2） 灯电流选择 灯电流过小，光强低且不稳定；灯电流过大，发射线变宽，灵敏度下降，且影响光源寿命。选择原则：在保证光源稳定且有足够光输出时，选用最小灯电流（通常是最大灯电流的1/2~2/3），最佳灯电流通过实验确定。 分析条件的选择 (3) 通带（调节狭缝宽度） 无邻近干扰线（如测碱及碱土金属）时，选较大的通带，反之（如测过渡及稀土金属），宜选较小通带。 (4) 原子化条件 火焰原子化: 火焰类型（温度-背景-氧/还环境）；燃助比（温度-氧/还环境)；燃烧器高度（火焰部位-温度）； 石墨炉原子化: 升温程序的优化。具体温度及时间通过实验确定。 干燥——105oC除溶剂，主要是水； 灰化——基体，尤其是有机质的去除。在不损失待测原子时，使用尽可