矿物晶体化学(第二章++晶体结构与化学键).ppt

7.2 晶体的缺陷及其影响 如果晶体内部每个粒子的排列完全符合其排列规律，称其为理想晶体。但实际在内部结构上总会出现这样那样的缺陷。 结晶时，由于微晶体晶面取向不可能完全相同，使得长成的晶体外形发生不规则变化。 结晶时，若某个晶面吸附了杂质，使长成的晶体外形也可发生变化。 空 晶体点缺陷的基本类型： 　　　空穴缺陷、置换缺陷、间充缺陷 间充 置换 空穴 空穴缺陷：晶体内某些晶格结点位置上缺 少粒子，出现空穴。 置换缺陷：晶格结点上的某些粒子被少量 　　别的粒子取代。 间充缺陷：组成晶体粒子的堆积空隙处， 　　被外来粒子所填充。 晶体中的缺陷对晶体的物理性质、化学性质产生一定的影响。 如：纯铁中加入少量C或某些金属，可制得各种性能的优质合金钢； 纯锗中加入微量Ga或As， 可强化其半导体性能 X射线衍射分析 1、X射线的产生 高速运动的电子流 ? 射线 X 射线 中子流 高能 辐射流 在突然被减速时均能产生X射线 X射线管 X射线管示意图 X射线的频率由下式决定： hν＝ ω2 —ω1 式中ω1和ω2为原子的正常状态能量和受刺激状态时的能量。 当打去K层电子时，所有靠外边的电子层中的电子都可能落到那个空位上，当产生回落跃迁时就产生K系的X射线光谱。K系线中，Kα线相当于电子由L层过渡到K层，Kβ线相当于电子由M层过渡到K层。当然Kβ线比Kα线频率要高，波长较短。整个K系X射线波长最短。结构分析时常采用K系X射线。 X射线X--ray 晶体 crystal 劳厄斑 Laue spots X射线的本质 劳厄斑Laue spots 晶体的三维光栅 2、X射线与物质的相互作用 X射线与物质相互作用时，会产生各种不同的和复杂的过程。但就其能量转换而言，一束X射线通过物质时，它的能量可分为三部分：其中一部分被散射，一部分被吸收，一部分透过物质继续沿原来的方向传播。透过物质后的射线束由于散射和吸收的影响强度被衰减。 X射线与物质作用除散射、吸收和通过物质外，几乎不发生折射，一般情况下也不发生反射。 3、X-射线衍射分析原理 布拉格方程： nλ=2dsinθ 2.已知θ， d 可测 ?——X射线光谱分析. 1. 已知θ，? 可测 d ——X射线晶体结构分析. 研究晶体结构、材料性质。 研究原子结构。 NaCl 晶体 主晶面间距为 2.82×10-10 m 对某单色X射线 的布喇格第一级 强反射的 掠射角为 15° 入射X射线波长 第二级强反射 的掠射角 根据布喇格公式 15° 2 × 2.82×10-10 × 15° 1.46×10-10 (m) 0.5177 31.18 ° 4、X-射线衍射分析应用 物相分析 定性分析 定量分析 单一物相的鉴定或验证 混合物相的鉴定 晶体结构分析 点阵常数（晶胞参数）测定 晶体对称性（空间群）的测定 等效点系的测定 晶体定向 晶粒度测定 宏观应力分析 NaCl晶体的三维空间点阵 X射线的应用 1、物相分析 确定物质（材料）由哪些相组成（即物相定性分析或称物相鉴定） 确定各组成相的含量（常以体积分数或质量分数表示，即物相定量分析）。 （1）物相定性分析 基本原理与方法 物质的X射线衍射花样特征：分析物质相组成的“指纹脚印”。 制备各种标准单相物质的衍射花样并使之规范化，将待分析物质(样品)的衍射花样与之对照，从而确定物质的组成相。 PDF卡片 各种已知物相衍射花样的规范化工作于1938年由哈那瓦特(J. D. Hanawalt)开创，其主要工作是将物相的衍射花样特征(位置与强度)用d(晶面间距)和I(衍射线相对强度)数据组表达并制成相应的物相衍射数据卡片。 卡片最初由“美国材料试验学会(ASTM)”出版，称ASTM卡片。1969年成立了国际性组织“粉末衍射标准联合会(JCPDS)”，由它负责编辑出版“粉末衍射卡片”，称PDF卡片。 氯化钠(NaCl)的PDF卡片 PDF卡片索引 JCPDS编辑出版了多种PDF卡片检索手册： Hanawalt无机物检查手册； Hanawalt有机相检查手册； 无机相字母索引； Fink无机索引； 矿物检索手册等 检索手册按检索方法可分为两类： 以物质名称为索引(即字母索引)； 以d值数列为索引(即数值索引)。 数值索引 以Hanawalt无机相数字索引为例。 其编排方法为：一个相一个条目，在索引中占一横行，其内容依次为按强度递减顺序排