ORT手机常温受控跌落测试规范V1.2.docxVIP

华为技术有限公司可靠性实验室Reliability Laboratory of Huawei Technologies Co., Ltd.密级Security level内部公开Internal Use Only文档编号No.DKBA 6884-01版本VersionV1.2发布日期Issue date2013.9.11ORT手机常温受控跌落测试规范批准（Approval）： 刘春林 审核（ Review ）： 张世强 拟制（ Prepare）： 简琴 修订记录规范号主要起草部门专家主要评审部门专家修订情况DKBA6884-01简琴、张世强测试部：刘春林、郭小琦、陈耿辉、刘吉平、邓小东、李宾、李华成、王正旺、何玮初版 (2012.10.29)DKBA6884-01张世强测试部：刘春林、郭小琦、陈耿辉、刘吉平、邓小东、王正旺、简琴V1.1 (2013.3.11)规定：每个高度下，第一个循环为手机亮屏跌落，第二个循环为熄屏跌落DKBA6884-01张世强测试部：刘春林、郭小琦、陈耿辉、刘吉平、邓小东、王正旺、简琴V1.2 (2013.9.11)规定：跌落时释放高度为30cm 初始位置：夹持式尽量垂直，吸嘴式偏差不可超过3度4寸及以上且125g以上的手机，必须使用夹持式测试目的本试验的目的是检验手机抗跌落冲击的能力。测试参数（仅为示例，以产品具体要求为准）测试项目E标测试参数B标测试参数手机常温受控跌落试验（1）4.0寸以下产品，跌落次数2轮*6面，0.3m + 1.2m； 4.0寸（含）-4.7寸产品，跌落次数2轮*6面，0.3m + 1m； 4.7寸（含）-5.0寸产品，跌落次数2轮*6面，0.3m + 0.8m； 千元智能机的跌落高度定为0.3m+0.8m，2轮*6面；（2）FP:2轮*6面，0.3m + 1m；（1）4.0寸以下产品，跌落次数2轮*6面，0.3m + 1m； 4.0寸（含）以上产品，跌落次数2轮*6面，0.3m + 0.8m； 千元智能机的跌落高度定为0.3m+0.8m，2轮*6面；（2）FP:2轮*6面，0.3m + 1m；测试准备4.1 设备、耗材定向跌落试验机大理石规格厚度：30mm (参考)硬度：32g，直径为2cm的钢球自50cm跌落到大理石反弹高度约为30cm材质：花岗岩表面：不允许存在腐蚀、凹坑、水泥地规格尺寸：长*宽*高=30cm*30cm*5cm （参考）硬度：32g，直径为2cm的钢球自50cm跌落到大理石反弹高度约为14cm材质：混凝土表面：不允许存在腐蚀、凹坑4.2 样品样品贴上标签，写上产品号、测试试验编号、样品序号、测试项目样品标签尽量贴在显示屏可视区域外，不可以遮挡住接近光感应器和前置摄像头确保电池量在30%以上装上SD卡、SIM卡试验步骤5.1 初始检测检查样机外观状况：TP、LCD是否良好；壳体、涂层是否有开裂、合缝变大现象；电池盖是否良好等。注意须安装相应的APK和歌曲等文件，用于后续功能检测。具体检测项目和需安装APK，请参见《产品ORT测试方案》和《检查用例》。5.2 测试步骤设备调整根据测试标准要求设置好跌落高度：样品跌落面底部到跌落平台的高度设置好设备夹具释放时的高度：30cm（指样品距离落到碰撞面还剩30cm）确定设备补偿高度没有被修改每次跌落前需要清理跌落平台，不允许有螺钉、插孔保护塞、侧键等异物在跌落平台上样品开机按照标准要求跌落顺序进行跌落测试0.3米跌落测试：将设备上升至0.3米后采用设备的手动模式进行测试（参考设备操作指导书）5.3 中间检查每次跌落后检查样品TP、LCD是否良好每次跌落后，要确定电池盖卡扣和其他部位卡扣和否扣合到位。扣合到位后才能继续测试0.3m跌落不允许出现掉电和掉电池盖现象；非0.3m的跌落允许出现电池盖脱落，记录但不做问题判断；非0.3米出现掉电现象要记录问题，根据级别定义判定问题。根据《手机ORT检查用例》进行检查，主要有：检查样机外观状况：TP、LCD是否良好；壳体、涂层是否有开裂、合缝变大现象；电池盖是否良好等检查触摸屏是否良好检查听筒好坏外放MP3检查SPK好坏进行MMI测试，检查样机其他性能是否良好每次检查完需要对结果进行记录5.4 最终检测检查样机外观状况：TP、LCD是否良好；壳体、涂层是否有开裂、合缝变大现象；电池盖是否良好等检查触摸屏是否良好检查听筒好坏外放MP3检查SPK好坏进行MMI测试，检查样机其他性能是否良好具体检查项参见产品《ORT测试方案》中的“ORT测试前后常规检查项”。5.5 测试注意点初始时样品跌落面与夹具底部须在同一平面上，且与碰撞面平行，以保证跌落高度准确和碰撞位置（吸嘴式偏差不可超过3度）测试前要空运行设备一次，确保跌落高度与设置高度一致当手机比夹具长时，要量出长出的距离，在