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2010年元件工技师理论知识考试试卷(A)
一、填空题(请将正确答案填在横线空白处, 每空1分,共20分)
1. 在本征半导体中掺入铝或镓可以形成 P _型半导体,掺入磷则可以形成 N _ 型半导体。
2. 半导体材料的分类方法有很多,按照化学组分,可分为 元素 半导体和 化合物 半导体。
3. Ⅴ族元素在硅中电离时,能够释放电子而产生导电电子并形成正电中心,称它们为施主杂质 ___;Ⅲ族元素在硅中电离时,能够接受电子而产生导电空穴并形成负电中心,称它们为__受主杂质___。
4单位体积中含有的杂质原子数称为___杂质浓度__,而杂质在一定温度下能溶入固体硅中最大的杂质浓度称为__固溶度____。
5.Ge的禁带宽度是__0.67eV ____,Si的禁带宽度是_1.12eV _____。
6. PN结体内扩散电流的数学表达式是 jd=q(np/τ) Ln ,PN结雪崩击穿电压与电阻率的关系表达式是__ VB=96ρn0.75___。
7. 将p-n结边缘磨一个斜角,可以降低表面电场。磨角的方向由高浓度层磨向低浓度层,低浓度层磨得多,称为 V ;磨角的方向由低浓度层磨向高浓度层,高浓度层磨得多,称为___负斜角__ _。
8. 关断时间与基区的少子寿命成_正比__。
9. 衡量气体压强的单位通常有Torr、Pa、bar等, 1 Torr=__133.32____Pa=___1.33×10-3__bar。
10. 晶闸管可以看作由_2__个三极管构成、导通条件为_____α1 +α2 1____。
11.在H2SO4中,元素S的化合价为 +6 价。二、选择题(请将正确答案的代号填入括号内,每题1分,共15题15分)
1.晶闸管阴极面上设置短路点是为了提高元件的( B )。(A) (B) (C)开通时间
2.元件VTM参数测试时与(C)无关。(A)温度 (B)门极 (C)电压
3. ( C )
以下哪种描述是错误的。
(A) 门极触发可以使晶闸管开通;
(B) 过电压可以使晶闸管开通
(C) di/dt可以使晶闸管开通
4.( A )
封装管芯时,管壳内应充氮气做为保护气体。氮气的压力应:
(A)小于大气压
(B)等于大气压
(C)大于大气压
5.( A )
铝、镓、硼三种杂质源在硅中扩散系数最大的是:
(A)铝 (B)镓 (C)硼
6.( A )
pH值为6的溶液是 溶液。
(A)酸性 (B)中性 (C)碱性
7.( A )
在生成SiO2的过程中需要通入和O2和H2O,H2O的作用是
(A)提高氧化速度;
(B)降低氧化速度:
(C)与氧化速度无关
8.( A )
SiO2膜:。
(A)对某些杂质有掩蔽能力;
(B)对所有杂质有掩蔽能力
(C) 对杂质无掩蔽能力
9.( A )不对硅片沾润质量产生影响的因素是。
(A)硅片厚度 (B)真空度(C) 烧结温度
10.( C )经过一定剂量的电子辐照后晶闸管门极电流如何变化?
(A)减小(B)基本不变(C)增大三、判断题(正确的请在括号内打√,错误的打×,每题1分,共15题15分)
1.只要在阴极和阳极加上电压,晶闸管就可以导通。( ×)
2.在电场作用下,空穴移动方向与电子移动方向是相同的。( × )
3. 晶闸管承受正向阳极电压时,仅在门极承受一定正向电压的情况下晶闸管才导通。 ( )
4.PN结的雪崩击穿电压与温度无关。(× )
5.硅原子结构最外层有4个电子。( )
6.半导体器件的电学性能不受温度影响。( × )
7. 逆变就是把直流电变成交流电。( )
8.稀释浓硫酸时,应先在容器中倒入浓硫酸,然后再倒入水。( × )
9. 晶闸管按其关断速度可分为普通晶闸管和快速晶闸管。( )
10.半导体制造工艺使用的化学试剂只要是化学纯即可。(× )。
四、简答题(每题5分,共4题20分)
1.平均自由程
答:气体分子连续两次碰撞之间所经过的平均距离叫平均自由程。
2.在晶闸管元件制造中,一扩在1280℃下扩散9小时,结深为80微米。现在结深要求为60微米,问在同样条件下扩散,需要多长时间?
已知t1=9H, X1=80um, X2=60um由公式 X=k 可知X12/t1=X22/t2t2=(X12/X22)t1=(602/802)×9=5.06(H)
答:结深要求为60um,需要扩散大约5小时
3. PN结承受反向偏压的能力与那些因素有关?
答:PN结承受反向偏压的能力与基区电阻率的高低、基区宽度、扩散结深以及结附近杂质浓度的分布等因素有关。
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