X射线荧光分析的原理.doc

XRF的理论 原理简介 XRF理论 原理简介 作者：Peter Brouwer 编译：杨成选 校对：高新华 Peter N. Brouwer 1958年4月2日生于荷兰Almelo。他在Enschede技术学院学习应用数学，1985年毕业。同年12月进入菲利浦分析仪器部，即现在的帕纳科。在这里他与Eindhoven的菲利浦研究实验室密切合作从事分析软件模型的开发。 他的另一项活动是长期参与XRF培训教程的编写工作，因而有了本书的问世。本书的目的在不涉及复杂的数学公式和深奥的理论的前提下，只对XRF作一个一般性介绍，使得XRF初学者能够容易的阅读和理解。 目录 前言 什么是XRF XRF基础 3.1 什么是X射线 3.2 X射线与物质的相互作用 3.3 特征荧光辐射的产生 3.4 吸收和增强效应 3.5 吸收和分析深度 3