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B E C N N P ICBO ICEO 1+ ? ICBO IEP ? ICBO ICBO进入N区,形成IEP 根据放大关系,由于ICBO的存在,必有电流? ICBO 。 集电结反偏有ICBO 3. 集-射极反向截止电流ICEO ICEO受温度影响很大,当温度上升时,ICEO增加很快,所以IC也相应增加。三极管的温度特性较差。 4.集电极最大电流ICM 集电极电流IC上升会导致三极管的?值的下降,当?值下降到正常值的三分之二时的集电极电流即为ICM。 5.集-射极反向击穿电压 当集---射极之间的电压UCE超过一定的数值时,三极管就会被击穿。手册上给出的数值是25?C、基极开路时的击穿电压UBRCEO。 6. 集电极最大允许功耗PCM 集电极电流IC 流过三极管, 所发出的焦耳 热为: PC ICUCE 必定导致结温 上升,所以PC 有限制。 PC?PCM IC UCE ICUCEPCM ICM UBRCEO 安全工作区 7. 特征频率fT 电流放大系数下降到1时的信号频率称为特征频率。 1 集电极最大允许电流ICM 2 集电极最大允许功率损耗PCMPCM ICVCE极限参数 4.1.4 BJT的主要参数 练习4.1.3 1、优先满足 PCPCM 2、其次满足 ICICM VCEI(BR)CEO 正常工作时要同时满足:电流、电压、功率都不能超过 最大允许的数值 半导体二极管的型号 国家标准对半导体器件型号的命名举例如下: 2AP9 用数字代表同类器件的不同规格。 代表器件的类型,P为普通管,Z为整流管,K为开关管。 代表器件的材料,A为N型Ge,B为P型Ge, C为N型Si, D为P型Si。 2代表二极管,3代表三极管。 2CW6.2, 2CZ11 ,2CP10 (3DG6,3DG12) 4.1.6 三极管的型号 国家标准对半导体三极管的命名如下: 3 D G 110 B第二位:A锗PNP管、B锗NPN管、C硅PNP管、D硅NPN管第三位:X低频小功率管、D低频大功率管、G高频小功率管、A高频大功率管、K开关管 用字母表示材料 用字母表示器件的种类 用数字表示同种器件型号的序号 用字母表示同一型号中的不同规格 三极管 三极管的参数 参 数 型 号 P C M mW I C M mA VR CBO V VR CEO V VR EBO V I C BO μ AfTMHz 3AX31D 125 125 20 12 ≤ 6 *≥8 3BX31C 125 125 40 24 ≤ 6 *≥ 8 3CG101C 100 30 45 0.1 100 3DG123C 500 50 40 30 0.35 3DD101D 5A 5A 300 250 4 ≤ 2mA 3DK100B 100 30 25 15 ≤ 0.1 300 3DKG23 250W 30A 400 325 8 注:*为 f? 4.1.5 温度对BJT参数及特性的影响 1 温度对ICBO的影响 温度每升高10℃,ICBO约增加一倍。 2 温度对? 的影响 温度每升高1℃, ? 值约增大0.5%~1%。 3 温度对反向击穿电压VBRCBO、VBRCEO的影响 温度升高时,VBRCBO和VBRCEO都会有所提高。 2. 温度对BJT特性曲线的影响 1. 温度对BJT参数的影响 温度升高使IC增加 4.1.5 温度对晶体管特性及参数的影响 一、温度对ICBO的影响 实验证明,温度每升高10℃, ICBO增加约一倍;反之,当温度降低时ICBO减小。另外,硅管比锗管受温度的影响要小得多。 二、温度对输入特性的影响 实验证明,温度每升高1℃, uBE大约下降2~2.5mV。对特性曲线的影响如图1.3.8所示。 图 1 温度对晶体管输入特性的影响 三、温度对输出特性的影响 图2 温度对晶体管输出特性的影响 温度升高1℃,β增加0.5~1%。 补充: 光电三极管 图3 光电三极管的等效电路、符号和外形 图 光电三极管的输出特性曲线 练习4.1.1 VA=-9VVB=-6VVC=-6.2V 考虑发射结两端电压,锗管; A是集电极c; 假定:B是基极b,C是发射极e VBC=0.2V 反偏 e c b N P N 假设错误。 C 是基极b, B是发射极e c b e N P P 集电结电压为负值,PNP型管。 练习4.1.2 IA=-2mAIB=-0.04mAIC=2.04mA IEIB+ IC A是集电极c,B 是基极b, C是发射极e。 C是发射极e,IC方向流出,为NPN管。 如何判断三极管的三个电极
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