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双极性电压输出:例子 设 VREF=5V D=FFH=255时,最大输出电压: Vmax=[(255-128)/128]×5V=4.96V D=00H时,最小输出电压: Vmin=[(0-128)/128]×5V=-5V D=81H=129时,一个最低有效位电压: VLSB=[(129-128/128]×5V=0.04V DAC芯片与主机的连接单缓冲方式 DAC芯片相当于一个“输出设备” WR1 CS IOW ?5V +5V Rfb Iout2 Iout1 WR2 XFER DGND AGND D0~D7 DI0~D17 Vcc ILE VREF Vout + _ A 译码 AB 编程应用 mov dx,portd mov al,0 repeat: out dx,al inc al jmp repeat 2次数据输出的时间间隔 0 2LSB 1LSB 255LSB 254LSB 锯齿波周期 思考如何产生三角波 t VO 主机位数小于DAC芯片的连接 数字数据需要多次输出 接口电路也需要多个(级)锁存器保存多次输出的数据 并需要同时将完整的数字量提供给DAC转换器 CPU DAC 8位 12位 两级锁存电路主机位数小于DAC芯片的连接 思考:1、是否可用一级锁存;2、几个端口 模拟输出 12位 DAC 第2级12位锁存控制 第1级低8位锁存控制 第1级高4位锁存控制 D0~D7 4位 锁存器 4位 锁存器 8位 锁存器 8位 锁存器 由同一个信号控制 关键的一级锁存 无需输出数据 简化的两级锁存电路主机位数小于DAC芯片的连接 mov dx,port1 mov al,bl out dx,al mov dx,port2 mov al,bh out dx,al 模拟输出 12位 DAC 第2级12位锁存控制 第1级低8位锁存控制 D0~D7 4位 锁存器 8位 锁存器 8位 锁存器 由同一个信号控制 关键的一级锁存 需要输出高4位数据 思考:与8255怎样连接? 10.2 A/D转换 A/D转换的实质是比例运算。它把输入模拟量(通常是模拟电压)信号VI与一个基准信号VR比较,将其转换为n位二进制数字量的输出代码表示。 A/D转换整个过程通常分四步进行: 采样→保持→量化→编码 经过采样、保持、量化、编码,即完成了A/D转换的全过程,将采样的模拟电压转换成与之对应的二进制数码。 A/D的采样和保持 A/D的采样是将一个时间上连续变化的模拟量转换为时间上离散变化的模拟量,或者说,采样是在一个等时间间隔(称为采样周期)的某一点上测量输入模拟量的信号大小,使A/D转换能在采样周期内用一个不变的值代替在该时间间隔内连续变化着的输入模拟值。 A/D的保持是将采样得到的模拟量值保持一段稳定期间,使得A/D转换能可靠进行。 A/D的量化和编码 A/D的量化是将采样/保持得到的模拟电压值转化成用基本量化电平单位整数倍的过程。这一过程实质上是把时间上离散而数字上连续的模拟量,以一定的准确度变为时间上和数字上都是离散的、量化的等效数字值。也就是说,量化是把采样/保持下来的模拟量值舍入成整数(有量化误差)的过程。 A/D的编码就是把已经量化的模拟数值(一定是量化电平的整数倍)用n位二进制编码形式表示。 A/D转换器性能参数 分辨率 ADC的分辨率是能够分辨的最小量化信号的能力,即输出的数字量变化1所需输入模拟电压的变化量,通常用位数来表示。对于一个n位的ADC,分辨率为2n位。 转换精度 转换精度反映了ADC的实际输出接近理想输出的精确程度,通常用数字量的最低有效位当量( 数字量最低有效位对应的模拟量Δ )表示。 转换时间和转换率 完成一次A/D转换所需要的时间,为ADC的转换时间。ADC转换时间的倒数,为ADC的转换速度,即转换率。 非线性度 ADC的非线性度是指实际转换函数与理想直线的最大偏移。 控制逻辑与时序 D/A转换器 SAR Vin 比较器 输出锁存器 START CLK EOC D0 D7 +Vref -Vref OE Vst 逐次逼近式A/D转换器结构 + - D/A转换器的输出,从二进制数据的最高位起,依次逐位置1,与待转换的模拟量比较,若前者小于后者,该位置1并保留下来,若前者大于后者,该位 清0;然后再照此 比较下一位,…… 直至比完最低位。 最后得到的结果 即A/D转换的值。 控制逻辑与时序 D/A转换器 SAR Vin 比较器 输出锁存器 START CLK EOC D0 D7 +Vref -Vref OE Vst 逐次逼近式A/D转换器工作原理 ?转换速度较快(比较次数等于A/
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