同轴电缆导体结构与衰减分析.docVIP

引言 现今，移动通信正在向第三代(3G)、第四代(4G)移动通信网络迈进，我国也即将进入3G网络时代。3(3网络的使用频率将达到2G以上，这就对同轴电缆的电气性能提出了更高的要求，即更低的衰减。本文就将对影响电缆衰减的因素阐述一下自己的观点。 二，影响同轴电缆衰减的因素 1．原材料对衰减的影响 提及同轴电缆的衰减，首先是原材料的问题，影响同轴电缆衰减的三部分包括内导体、绝缘、外导体。在3G以下频段，金属衰减所占的比例远大于介质衰减所占比例。也就是说，电缆内外导体材料的性能对电缆的衰减的影响最大。通过计算，内导体材质对衰减的影响要比外导体材质对衰减的影响更大一些。所以说，电缆在生产制造过程中，首先要考虑内外导体的材质及性能，特别是内导体的外表面和外导体内表面的质量，因为肌肤效应和临近效应，交流电流主要集中在内导体的外表面和外导体的内表面这两部分，如果这两部分氧化严重，将使电缆的衰减大幅度增加。相对于内外导体材质，绝缘对衰减的影响相对小些，但随着频率的增加其影响是不断增大的，到达2G频段时，介质衰减也是不容忽视的。由于绝缘层基本均采用的发泡结构，从实际的情况来看，发泡度是影响电缆介质衰减、特性阻抗等参数的最主要因素。 2．外导体结构对衰减的影响 在不考虑相移、驻波的条件下，电缆的衰减常数由金属衰减和介质衰减两部分组成，具体计算公式为： 其中：为金属衰减； 为介质衰减；f为频率； 为绝缘的等效介电常数； 为绝缘的等效介质损耗角；Do 为绝缘等效外径； 为内导体等效外径； K 、K 分别表示内、外导体材料与标准软铜不同时的电 阻增大系数，K，=，／导，其中p为导体电阻率， 为国际标准软 铜电阻率。 分别表示内、外导体为皱纹管时相对与光滑管时 的增大系数， 的通常取值为1．10—1．20。 以“7／8”电缆1800M衰减为例， =1．74×10～、 =1． 24、Do=22． 73(已确定考虑了空气层，具体计算参见参考文 献)、4=9．00、Km=K， =1、K =1、K =1．15，算得金属衰减为 4．96dB／100m，介质衰减为0．32dB／100m。可见，金属衰减的影 响对电缆总衰减的影响比介质衰减的影响大的多。所以进一步 精确对金属衰减的计算，对总衰减计算的准确性有着重大的意 义。而在上述计算中，对外导体为皱纹管时相对与光滑管时的 增大系数 的取值尚缺乏足够的依据，事实上， 的取值大 小对金属衰减的影响是很大的。下面，我们将建立一个新的 模型，对电缆的金属衰减进行计算，从某种意义上说，也就 是进一步确定 的取值。 金属衰减的计算公式为： 电缆沿长度方向任意一个微小段A 0上，铜带均可看作平 直的，即为定值，但不同微小段的空气层厚度的不同，使得金 属衰减也不同。遂建立如下模型对金属衰减和介质衰减进行计 算。 如图1所示， 电缆外导体的实际形状为类似于正弦线的曲 线，为了计算方便，我们将正弦曲线近似为图中的梯形线。 将梯形线每半个周期分成4个部分，分别为图中的第一段到第 飘络电信二零零t年三 四日 弩 维普资讯 四段，其中第一段和第四段铜带没有拉伸，即 = 1，第二 段和第三段，K 增大系数与斜线倾角n有关，Ke2=1／cos n。上 面四部分均使用 一 c等+等 do 对金属衰减进行计算，对于第二段平均衰减和第三段平均衰减， Do的取值均为该段中点的D。值(也可以采用积分的方式计算平 均衰减，但计算过程十分复杂)。下面是采用该种模型对’7／8” 电缆衰减的计算结果。(表1、表2) 不同段的结构参数及电气参数 第一段 第二段． 第三段 第四段 内导体外径(衄 9 9 9 9 内皮层外径(衄 9 9 2- 9 2— 9． 发泡层外径【ⅡIm 22 22 2094 209 绝缘(外皮)外径(mm 22、4 22．40 21．14 2ll 空气层外径(衄 24．4 23．42 2l 77 19 88 绝缘介电常数 1．227 1．239 l 244 1．280 绝缘介质损耗角． 1_858~1 1．858xl l_865x10o 1．865x10 外导体皱纹增大系数 1．000 2 366 2366 l 000 金属衰减(血，l0om 4．297 6．296 7．077．． 5 875 介质衰减(血，l0om 0．336 0．338 0．340 0 345 该段所占长度比例 61．41％ 13．59a／~, 8．39／b, 1661％ 目瞵踢i叠舞 那么对于整段电缆 外导体皱纹增大系数 K 2 1．000× 61．41％+2．366× 13．59％+2．366× 8．39％+1 000× 16．61％ ： 1．300 金属衰减 _= 4．297× 61．41％+6．296× 13．59％+7．077× 8 39％+5．875×