SA710-0MCR150 A0 砝码校准规程.docVIP

目的 对砝码进行内部校准，确保在使用期间能维持其精密度及准确度。 适用范围 本校准规程适用于全公司使用的F1级以下的砝码（计量标准器除外）首次检定、后续检定和使用中检验。 参考文件 TWS-QP710 《测量仪器管理程序》 JJG 99-2006《砝码检定规程》 方法及要求 4.1校准用标准件 外校合格的高精度标准砝码 4.2校准环境 温度：18℃~28℃之间 湿度：40%~80%之间 4.3校准前准备事项： 4.3.1校准人员在实施校准前，必须熟读本校准规程及所有校正步骤，以利校准工作的进行 4.3.2校准时需戴好手套，以隔绝身体温度对待校样品和标准件的影响，降低不确定度。 4.3.3砝码清洁 a）用无水乙醇清洁砝码或局部，带有调整腔的砝码不得浸入溶液中，以免液体浸入腔体；在清洁过程中不能去除任何一块砝码材料，砝码在抓取和储存时都必须保持其清洁。清洁时不得改变砝码的表面特性（如：划伤砝码）。 4.3.4砝码用溶液清洗之后，标准件与砝码在校准环境下，至少恒温1小时以上，以保证其达到校验环境。 4.4校准步骤 4.4.1外观 砝码的表面状况应使得在正常使用条件下，砝码质量的变化相对对于最大允许误差而言是可以忽略不计的。 a）被检砝码的表面不应有沙眼：用目力检查时，表面应有光泽。 b）对于使用中的砝码，砝码提上的标记不得涂抹、修改；若需要对砝码进行标识时，可标识于砝码盒等装砝码的器具上，不得标识在砝码上，避免影响砝码准确度。 4.4.2砝码质量检定 选一台在校验期内分辨率在0.0001g以上的电子天平作为衡量器，按照天平的操作程序，将200g的标准砝码放入托盘上，使天平参照该砝码的标准进行自校，自校的选点还可根据需求增加。 a）校准前，将天平清零，用镊子将被检砝码放在托盘上，关上天平的防护玻璃，待数据稳定后记录其显示值；每个砝码在校准时，需在天平托盘的中心、四周不同位置取点，最少取5点，每次取点前天平应清零，该砝码的质量值为多次测量的平均值。 b）当测量完一个被检砝码后，需按照称量被检砝码的方法，测量一相同质量的标准砝码，最终被检砝码的平均值减去标准砝码的平均值，即为该砝码的质量误差。 4.4.3示值误差允许标准： 见附录 4.5校准后的步骤： 4.5.1校准结果的处理： a）经校准符合本校准规程要求的出具内校报告，粘贴合格标签；如超出公差或不堪使用时，应降级使用或报废处理，并在报告中注明不符合项目。 b）校准后，标准件应做好保养清洁，放置于规定的位置，关闭比较用天平。 4.6校准周期：1年 相关表单 《内校测量仪器校准报告》 修改履历 实施日期 修改说明/内容 版次 2009-09-21 新发行 A/0 应发放部门 体系保证课 附录：砝码最大允许误差的绝对值(∣MPE∣,以mg为单位) 砝码校准规程 文件编号 SA710-0MCR150 发行章 发行版次 A/0 实施日期 2009-09-21 页码4/4 砝码校准规程 文件编号 SA710-0MCR150 发行章 发行版次 A/0 实施日期 2009-09-21 作成 确认 承认 页码1/4