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GECALSTHOM
POWER GENERATION 超声波检验通用规程 IBA R22404D
发布日期:18.12.95
第1页共14页 目录
0 参考标准
1 应用范围
2 一般要求
3 超声波检验设备
4 检验条件
5 缺陷特征
6 检验报告
7 术语
附录1 反射率曲线-纵波
附录2 反射率曲线-横波
附录3 距离幅度校正曲线
附录4
附录5 距离-增益-尺寸曲线
附录6 反射率图
附录7
0 参考标准
本标准参考下列标准:
ISO 2400 用于钢焊缝的校准试块
NF A09—310 A型及B型校准试块
NF A09—320 设备的校核
NF EN 27863 用于焊缝超声波检验的2号校准试块
IBA Q50253 检查人员资格
1 应用范围
本规程叙述有关产品的专用规范要求的超声波检验的一般要求。
这些要求适用于由一片或两片压电晶片构成的单探头反射法。显示方式为A型,其它显示模式根据技术和材料的发展在以后说明。
2 一般要求
2.1 检验人员资格
超声波检验人员应具有IBA Q50253规定的资格。
2.2 超声检验资料
所有超声检验都应当按照一系列特定资料给定的条件进行,这些资料包括规程、指导书、工艺卡等,且至少包括下列内容:
·受检工件等级、形状、尺寸分布和材质等;
·适用的参考资料;
·检验时期;
·检验设备:超声仪、探头、耦合剂、自动检验装置(若使用的话)、校准试块和参考试块。
·检验条件:受检区域、表面状况;
·检验规程:角度和波型、耦合剂类型(接触法或液浸法)、扫查条件(表面、检验的定位方向);
·记录限;
·验收标准。
3 超声波检验设备
3.1 超声仪
使用脉冲式超声仪,其频率范围应与专用规范的要求相一致。垂直和水平线性的检验及校验周期应符合NF A09—320标准。
3.2 探头
按受检材料的级别及尺寸以及专用规范的规定选择探头的公称频率和压晶片的尺寸。
原则上,探头频率为1MHz~6MHz(纵波、横波),但按照材料的性质和/或厚度的要求,也可使用不同频率的探头。晶片可以是矩形,圆形或半圆形。晶片尺寸应在10mm~35mm之间。对于特殊应用,常规探头不适用时,可使用专用探头。
3.3 耦合剂
可使用下列几种耦合剂之一:
·有或无润湿剂的水;
·有粘性的加水纤维素;
·浆糊;
·油;
·甘油。
检验过程中耦合剂的性质应保持不变,检验后,如耦合剂有碍于后续工序,则应予去除。
3.4 校准试块及参考试块
3.4.1 校准试块
校准试块用于校核所用仪器的性能(超声脉冲发生器,探头等)。
试块由NF A09—310,NF EN 27963 或 ISO 2400 作出规定。
3.4.2 参考试块
参考试块用于调节所用检验方法参数及评定从工件得到的信号幅度和位置。
参考试块可取自
·受检工件的余料;
·同材料的废工件,并经过与受检件相同的热处理;
·与受检件声学特性相似的产品。
除另有规定外,试块的表面状态应能代表被检工件。规定的反射体的几何形状、尺寸和位置,在专用规程中逐项说明。规定的反射体的位置和数量,应能测出受检工件的整个厚度内的所有缺陷显示。
所有预防措施应保持反射体的特性恒定(使用孔塞等)。
参考试块用于底波法时,该试块厚度应等于受检件厚度,厚度公差为:
受检区厚度e(mm) 厚度公差 e≤50 ±20% 50<e≤100 ±10% e>100 ±10% 4 检验条件
4.1 穿透性
工件的声穿透性应能检出缺陷显示,其值在专用规范中指明。
穿透性由单位长度的衰减量(dB)表示。
可用如下方法之一测量衰减量:
(1)在工件上获得的前两次底波的幅度比。
(2)工件上获得的底波幅度与试块上得到的同声程底波幅度之比。
4.2 表面制备
扫查面应无油漆、松散氧化皮及其它物质或表面凹凸不平,表面凹凸不平妨碍工件中波的传播,或妨碍探头的移动或导致错误评定(由于波形转换产生的伪显示)。除另有规定外,机加面或打磨面最大粗糙度Ra为 6.3μm,喷砂面或喷丸面最大粗糙度Ra为12.5μm。
平直度不超过探头直径的2%或不超过探头的最小尺寸。
4.3 探头的校核和扫查速度的调节
对于铁素体钢工件,扫描线的调节,斜探头入射点及折射角的测定应按NF A09—320 的规定执行。测得的折射角允许偏差,与检验件的规定值相比,最大不超过2°。
对奥氏体钢,有色合金及铸铁件,使用与被检件有相近声学特性的带人工反射体的试块进行调节。此方法的精度与铁素体钢试块上得到的精度有相同的数量级。
对直探头检验,扫描线的调节可在受检工件具有平行面的部位上进行。
自动探伤时,上述工作应在每次检验前进行,手工探伤时,应按NF A09—320规定的频率进行。
4.4 灵敏度调
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