AFM原理及应用讲述.pptVIP

原子力显微镜Atomic Force Microscope 报告人：史亚兰 学号：201320103011 指导老师：王新平教授 AFM的概述 原子力显微镜的基本原理是：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。利用光学检测法或隧道电流检测法，可测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化，从而可以获得样品表面的形貌。 之前的动力学分析：是扩散限度聚集Diffusion Limited Aggregation（DLA）。 本次研究是无溶剂操作，结合DSC发现温度升高到75℃会发生液体状合并，出现类似液晶状。动力学：温度诱发聚集。 小结-AFM的应用 AFM可以在大气、真空、低温和高温、不同气氛以及溶液等各种环境下工作，且不受样品导电性质的限制，因此已获得比STM更为广泛的应用。主要用途： 1. 导体、半导体和绝缘体表面的高分辨成像 2. 生物样品、有机膜的高分辨成像 3. 表面化学反应研究 4. 纳米加工与操纵 5. 超高密度信息存储 6. 分子间力和表面力研究 7. 摩擦学及各种力学研究 8. 在线检测和质量控制