光具组基点的测定..docVIP

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  • 2016-12-26 发布于重庆
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实验4 光具组基点的测定 有两个或两个以上的共轴薄透镜组合而成的光学系统(共轴球面系统),称为光具组.最后成像的位置及像的大小可以利用作图法逐步求出,也可用薄透镜成像的高斯公式逐步计算出.但是,最简捷的方法通常是将光具组作为一个光学元件,不论光具组透镜焦距及透镜间的距离为何值,在表征系统成像的性质时,只需给出六个特别点,利用一次成像的高斯公式就可以得到所成像的位置及放大率.这六个点,统称为光具组的基点. ·实验目的 1.了解测节器的构造及工作原理; 2.加强对光具组基点性质的认识; 3.掌握光具组基点与焦距测定的方法. ·实验仪器 光具座,测节器,薄透镜(4片),物屏,光源,准直透镜,平面反射镜,白屏. 测节器由一个可绕铅直轴转动的水平滑槽与待测光具组(由透镜L1、L2共轴用套筒链接)组成如图4-1所示,光具组可沿滑槽水平移动,并可由槽上的刻度尺读出转轴、L1、L2的位置. ·实验原理 一、光具组的基点和基面 1.主点和主面 若将物体垂直于系统的光轴,放置在物方主点H处,则必成一个与物体同样大小的正立的像于像方主点H处,即主点是横向放大率β=+1的一对共轭点.过主点垂直于光轴的平面,分别称为物方和像方主面,如图4-2中的MH和MH. 2.节点 节点是角放大率γ=+1的一对共轭点.入射光线(或其延长线)通过物方节点N时,出射光光线(或

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