《数字逻辑实验指导书》学生 打印.docVIP

《数字逻辑技术》实验学生指导书 参考教材 《电子技术基础实验–分析、调试、综合设计》 王传新主编，高等教育出版社 实验要求及注意事项 1、实验前必须预习实验内容，做到思路清晰，实验任务明确。 2、实验时认真阅读实验指导书，按电路原理图正确连接实验导线，仔细检查无误，方可通电实验。 3、实验中多注意观察，如有元器件冒烟、发烫或有异味等应立即关断电源，报告实验老师，待找出原因、排除故障后才能重新实验。 4、实验中须更改连线，必须切断电源后才能进行。 5、实验中应仔细观察实验现象，认真记录实验结果、数据、波形、分析正确与否。 6、实验结束关闭电源，拔除电源插头，并将仪器设备、工具、导线等按规定整理好。 数字集成电路与封装 （1）数字集成电路分类 (小规模数字集成电路（SSIC） (中规模数字集成电路（MSIC） (大规模和超大规模数字集成电路（LSIC和VLSIC） （2）数字集成电路制造工艺 (中、小规模数字IC 中最常用的是TTL 电路和CMOS 电路。 (TTL 器件型号以74（或54）作前缀，称为74/54系列，如2输入与非逻辑门为74LS00等。 (中、小规模CMOS数字集成电路主要是4XXX/45XX（X代表0 - 9的数字）系列，高速CMOS电路HC（74HC系列），与TTL兼容的高速CMOS电路HCT（74HCT系列）。，如2输入与非逻辑门为4011。 (TTL电路与CMOS 电路各有优缺点，TTL 速度高，CMOS 电路功耗小、电源范围大、抗干扰能力强。由于TTL在世界范围内应用很广，所以在数字电路教学实验中，我们主要使用TTL74 系列电路作为实验用器件，采用单一+5V作为供电电源。 （3）中、小规模数字集成电路封装形式 数字IC器件有多种封装形式。为了教学实验方便，实验中所用的74 系列器件封装选用双列直插式。 (从正面（上面）看，器件一端有一个半圆的缺口，这是正方向的标志。缺口左边的引脚号为1，引脚号按逆时针方向增加。图 中的数字表示引脚号。双列直插封装IC引脚数有14、16、20、24、28 等若干种。 (74 系列器件一般左下角的最后一个引脚是GND，右上角的引脚是VCC 。例如，14 引脚器件引脚7 是GND，引脚14 是VCC，但也有一些例外。所以使用集成电路器件时要先看清它的引脚图，找对电源和地，避免因接线错误造成器件损坏。 （4）数字集成电路使用注意问题 必须注意，不能带电插、拔器件。插、拔器件只能在关断电源的情况下进行。 实验1 门电路逻辑分析与设计实验 1.1 实验基本目的 1、掌握TTL普通门电路的使用方法。 2、掌握小规模数字集成电路组成组合逻辑电路的基本分析方法。 3、掌握小规模数字集成电路组成组合逻辑电路的基本设计方法。 4、了解小规模数字集成电路组成组合逻辑电路的基本调试方法。 1.2 实验任务 1、TTL四2输入与非门74LS00逻辑功能分析（参考实验教材P303） （1）选用一个与非逻辑门，进行2输入与非逻辑功能分析。 （2）参考图6.1.6连接电路，在实验板创建2输入与非逻辑功能分析电路，改变开关A、B状态，用数字万用表测量电路输出，将测试结果记入表6.1.7中。 图6.1.6 表6.1.7 实验操作 输入 输出 UA/V（A键） UB/V（B键） 典型值/V 实测值/V 逻辑值 1 0 0 2 0 5 3 5 0 4 5 5 （3）仪器仪表：直流稳压电源＋5V、数字万用表。 （4）元器件：74LS00（四2输入与非门）。 2、分析“三个开关控制一盏灯”电路（参考实验教材P318） （1）参考图6.2.5，在实验板创建“三个开关控制一盏灯”电路。 图6.2.5 （2）转换开关A、B、C位置，检测发光二极管输出状态，将测试结果记录到自拟的表格中。 （3）根据检测结果，分析电路逻辑功能。 （4）仪器仪表：直流稳压电源＋5V、数字万用表。 （5）元器件：74LS86（四异或门）、300 Ω、发光二极管。 3、设计多数表决电路–“与非”逻辑门实现（参考实验教材P318） （1）采用“与非”逻辑门，设计三人表决电路。要求：当三人中多数对表决事件表示同意时，多数表决电路指示灯亮。 （2）在实验板创建三人多数表决电路。 （3）检测发光二极管输出状态，将测试结果记录到自拟表格中，验证设计的正确性。 （4）选用器件：74LS00（四2输入与非门）、74LS10（三3输入与非门）。 （5）选用仪器仪表：直流稳压电源＋5V、数字万用表或发光二极管。 1.3 预习内容 1、TTL与非逻辑门基本功能。 2、小规模数字集成电路组成组合逻辑电路的基本分析方法。 3、小规模数字集成电路组成组合逻辑电路的基本