UHF RFID测试平台特点 硬件设备环境 硬件设备环境 硬件设备环境 硬件设备环境 柔性薄卡测试分平台 ICC与上海市计量测试技术研究院合作共建上海RFID测试公共服务平台—柔性薄卡测试分平台 上海市计量测试技术研究院是上海世博会门票制作监理单位,ICC通过在建的RFID测试公共服务平台为其提供技术支撑,为世博门票监理工作提供先进的测试环境和手段。 中国2010年上海世博会制票项目,是迄今世界会展业最大规模的柔性薄卡(RFID)的应用。世博会制票项目是一项艰巨和繁重的工作,在24个月内需要制作、发行近1亿张带有RFID芯片的门票。制票过程涉及到芯片设计生产和Inlay的生产,门票的封装和发行,信息管理,安全控制等工作。 柔性薄卡测试分平台 由于目前柔性薄卡的可靠性测试没有统一的公认的标准和方法,双方在测试方法、测试标准、测试软硬件环境方面开展了联合攻关,确定了60多项测试指标,为世博门票提供可靠性测试服务。截至世博会闭幕,世博门票已经过逾7308万人次的考验,获得了各界的高度好评,未出现由于产品质量问题引起的门票失效情况。在世博制票项目实施过程中编撰的部分技术规范以及搭建的针对Inlay和柔性薄卡的测试平台填补了国内空白,对于今后国内的柔性薄卡大量应用有很好的借鉴作用。ICC藉此荣获上海市“服务世博、奉献世
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