X线头影测量分析精选.docx

目录/Xxiantouyingceliangfenxi_103560/1?拼音/Xxiantouyingceliangfenxi_103560/2?X线头影测量的主要应用/Xxiantouyingceliangfenxi_103560/3?头颅定位X线照像和头影图的描绘/Xxiantouyingceliangfenxi_103560/3.1?头颅定位X线照像/Xxiantouyingceliangfenxi_103560/3.2?头影图的描绘/Xxiantouyingceliangfenxi_103560/4?常用X线头影测量的标志点及平面/Xxiantouyingceliangfenxi_103560/4.1?头影测量标志点/Xxiantouyingceliangfenxi_103560/4.2?头影测量平面/Xxiantouyingceliangfenxi_103560/5?常用硬组织测量项目/Xxiantouyingceliangfenxi_103560/5.1?上下颌骨的常用测量项目。/Xxiantouyingceliangfenxi_103560/5.2?上下前牙的常用测量项目/Xxiantouyingceliangfenxi_103560/5.3?面部高度的常用测量项目/Xxiantouyingceliangfenxi_103560/6?电子计算机化的X线头影测量/Xxiantouyingceliangfenxi_103560/6.1?电子计算机化的X线头影测量特点/Xxiantouyingceliangfenxi_103560/6.2?电子计算机化X线头影测量系统的组成及工作过程/Xxiantouyingceliangfenxi_103560/6.3?数学模型的建立[/Xxiantouyingceliangfenxi_103560/返回]1?拼音X xiàn tóu yǐng cè liàng fèn xīX线头影测量（Cephalometrics），主要是测量X线头颅定位照像所得的影像，对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析，从而了解牙颌、颅面软硬/zuzhi_105050/组织的/jiegou_119288/结构，使对牙颌、颅面的/jiancha_143390/检查、诊断由表面/xingtai_109410/形态深入到内部的/guge_107427/骨骼结构中去。几十年来X线头影测量一直成为口腔正畸及/kouqiang_48432/口腔/waike_1243/外科等学科的临床诊断、治疗设计及研究工作的重要手段。在我国，X线头影测量于60年代初开始在口腔正畸的科研及临床工作中应用。70年代末，电子计算机X线头影测量亦开始应用于我国口腔正畸临床及科研工作上。[/Xxiantouyingceliangfenxi_103560/返回]2?X线头影测量的主要应用1研究颅面生长/fayu_107306/发育：X线头影测量是研究颅面生长发育的重要手段，一方面可通过对各年龄阶段个体作X线头影测量分析，从横向研究颅面生长发育，同时也可用于对个体不同时期的测量分析，而作颅面生长发育的纵向研究。由于X线头颅照像是严格定位的，因而系列的X线头颅片具有可靠的可比性。Brodie1941年以X线头影测量，对出生后3个月至8岁的儿童的颅面生长发育作了纵向研究，所得出的头影生长图迹重叠图，至今仍广为应用。Enlow提出并为大家所推崇的颅面生长发育新理论，也是以X线头影测量作为研究手段。林景榕在60年代中亦以X线头影测量对我国儿童的颅面生长发育作了横向研究。林久祥、张兴中等在90年代中纵向研究分析了我国儿童的颅面生长发育。通过颅面生长发育的X线头影测量研究，明确了颅面生长发育机制，快速生长期的年龄、性别间差异，以及颅面生长发育的预测。2牙颌、颅面畸形的诊断分析：通过X线头影测量对颅面畸形的个体进行测量分析，可了解畸形的机制、主要性质及部位，是骨骼性畸形抑或牙 合性畸形，使对畸形能作出正确的诊断，而这种诊断的依据，来源于明确了颅面软硬组织各部分间的相互关系。而对于牙颌、颅面畸形的诊断分析基础，又首先必须通过X头影测量对正常合人颅面结构进行分析，得出正常合人各项测量的参考标准，并应用到对畸形的诊断分析中去。3确定错合畸形的矫治设计：从X线头影测量分析研究中得出正常 合关系可存在于各种不同的颅/miangu_11695/面骨骼结构关系中，而一些/yachi_107383/牙齿的位置能在一定的颌面结构下得到/wending_120141/稳定，因而当通过测量分析牙颌、颅面结构后，根据错合的机制，可确定颌位及牙齿矫治的/lixiang_117639/理想位置，从而制定出正确可行的矫治方案。4研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅