Ir192Y射线全景曝光工法.doc

Irl92一γ射线全景曝光工法 目 录 l工艺原理及特点 2 2确定曝光时间 3 3工艺程序 3 4机具设备 4 5质量标准 5 6劳动组织 5 7安全防护 6 8效益分析 6 9工程应用实例 6 Ir192—γ射线全景曝光技术是将γ源置于球罐中心，等径方位曝光的一种新技术，该技术不仅可大量节省人力、物力，而且还可提高经济效益，缩短工期。1992年我公司通过南京市煤气公司二罐厂4台400 m3球罐的初步应用及1993年在三罐厂4台1000m3球罐的进一步推广应用，获得了较好的经济效益和社会效益，并且使该技术趋于完善。1992年该技术获中建八局QC成果一等奖，1993年12月又通过了南京科委组织的专家鉴定，得到一致好评。 l工艺原理及特点 l.l工艺原理 当一束射线穿透物质时，将发生光电效应康普顿散射，电子对效应射线强度逐渐衰减，满足： I＝I0e-ud(1+n); I。一入射射线强度； I一到达胶片射线强度； n一散射比； u一线衰减系数； d一穿透工件厚度。 材料密度、厚度差异以及缺陷的存在使射线衰减程度不一，在底片上出现明暗影像，由此检出缺陷。 人工放射性同位素Ir是通过稳定元素Ir受中子辐射获得： Ir十n→Ir十γ Ir是放射性元素，其原子核发生衰变产生γ射线，能谱为O.136～O.88Mev属多能谱，能量适中，可用于探伤。 主要技术参数表l 半 衰 期 能 谱 平均 能量 相当于X射线能 量 半值层(钢) 线吸收系数 适 用 范 围 特径 强度 γ常数 d Mev Mev Mev cm cm mm R/h c×cm2／h×Kq×Bq 74.4 0.136～0.88 0.355 0.3～0.8 1.28 0.78 A级 AB级 B级 0.55 20～100 30～95 40～90 32.9×10－12 注：采用内透法（中心法或偏心法）时，母材厚度可为上表适用范围下限的1／2。 1.2γ射线探伤特点 1.2.l能谱宽，且能量适中，穿透范围大，穿透能力强，尤其适宜于差异较大的工件检测可以穿透携带式X光机（＜300kV＝不能穿透的工件。 1.2.2采用机械传动不用电源，设备体积小，重量轻，适用于野外和高空作业，且源头尺寸小（?2×2mm、?3×3mm）可伸入工件狭窄部位检测（如管道或容器）。 1.2.3源活度大、尺寸小、照相分辨率高，可提高几何清晰度和对比度，由此提高灵敏度。若采用合理透照工艺，可得到较好的底片，像质灵敏度可达到1～1.5％，符合GB3323一87标准AB级的要求。 1.2.4球罐采用全景曝光，既节约人力、物力，缩短工期，又可降低成本，提高经济效益。 1.2.5Ir的主要缺点是半衰期短，要及时换源，已能量和强度不可调节，对检测不利，但其优点更为可贵，因而得到广泛应用。 1.2.6在曝光过程中要采取安全可靠的防护措施，牢固树立安全意识，防止误照射，具体防护措施应符合GB4792—84（放射卫生防护基本标准）。 1.2.7γ探伤设备价格低廉，一套设备4万元左右，一只新源8000元左右，成本低。 2确定曝光时间 曝光时间可以从计算公式确定： t曝一F2／A×2T／15×K（min） 式中： F一射源至胶片的距离mm； A一放射性强度Ci； T一透照厚度（此为母材与焊缝余高之和）mm。； K一常数，不同胶片有不同K值（见表2）。 表2 胶 片 类 型 阿可发（D） 天津V型（D） 天津Ⅲ型（D） K 值 中心内透照双壁同投影 4.24×10－4 3.7×10－4 2.65×10－4 双壁双影一次椭圆透照 3.7×10－4 3.2×10－4 2.12×10－4 3工艺程序 整个探伤过程可分为外观检查→划线→编号→贴中心标记→贴片→上源→曝光→收源→取片→暗室处理→评定→签发报告等12个步骤。 3.1外观检查 焊缝及热影响区的表面质量（包括余高高度）应经外观检查合格。表面的不规则状态在底片上的图象应不掩盖焊缝中的缺陷或与之相混淆，否则应作适当的修整