实验13_原子力显微镜AFM.docxVIP

实验三原子力显微镜AFM 0 前言1982年，IBM公司苏黎世实验室的G.Binnig和H.Rohrer发明了世界上第一台扫描隧道显微镜STM(Scanning tunneling microscope)。它使人们第一次在实空间观察到了原子的晶格结构图象。但是必须是导电样品，STM才能进行观察。1986年Binnig、Quate和 Gerber成功地制作了第一台原子力显微镜AFM （Atomic force microscope)，由于AFM是测量针尖原子与样品表面原子的极微弱的排斥力，并不产生隧道电流，因此可适用于导体和绝缘体样品，检测其表面结构的形貌。1实验目的了解原子力显微镜工作原理。 2．基本掌握AFM一Ⅱ型原子力显微镜的操作。 3．分析计算机记录样品的AFM图象。2原理AFM是SPM家族中应用领域最为广泛的表面观察与研究工具之一。其工作原理基于原子之间的相互作用力。当一根十分尖锐的微探针在纵向充分逼近样品表面到几纳米甚至更小间距时，微探针尖端的原子和样品表面的原子之间将产生相互作用的原子力。原子力的大小与间距之间存在一定的曲线关系。当间距较大时，原子力为引力，当距离减小，原子力逐渐从引力变成斥力。这是由于价电子云的相互重叠和两个原子核的电荷间的相互作用的结果。AFM正是利用原子力与间距之间的这些关系，通过检测原子间的作用力而获得样品表面的微观形貌的。通常原子