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材料现代分析方法电镜中的电子衍射 河北工业大学　材料学院 孙继兵 E-mail: hbgdsjb@126.com Tel:022-2658 2288 概述 电镜中的电子衍射几何与X射线完全相同，都遵循布拉格方程所规定的衍射条件和几何关系。两种衍射技术所得到的衍射花样在几何特征上也大致相似。 不同点在于： 1）电子波的波长比X射线短得多，在同样满足布拉格条件时，它的衍射角很小，约为10-2rad。而X射线产生衍射时，其衍射角最大可接近 90o。 2）电子衍射采用薄晶样品，薄样品的倒易阵点会沿着样品厚度方向延伸成杆状，结果使略为偏离布拉格条件的电子束也能发生衍射。 3)电子波长短，单晶的电子衍射花样婉如晶体的倒易点阵的一个二维截面在底片上放大投影，从底片上的电子衍射花样可以直观地辨认出一些晶体的结构和有关取向关系，使晶体结构的研究比X射线简单。 4)原子对电子的散射能力远高于它对X射线的散射能力（约高出四个数量级），故电子衍射束的强度较大，约为X射线一万倍，摄取衍射花样时曝光时间仅需数秒钟。 电子衍射不足之处 电子衍射强度有时几乎与透射束相当，以致两者产生交互作用，使电子衍射花样，特别是强度分析变得复杂，不能象X射线那样从测量衍射强度来广泛的测定结构。 此外，散射强度高导致电子透射能力有限，要求试样薄，这就使试样制备工作较X射线复杂；在精度方面也远比X射线低。 衍射花样的分类 1）斑点花样：平行入射束与单晶作用产生斑点状花样；主要用于确定第二象、孪晶、有序化、调幅结构、取向关系、成象衍射条件； 2）菊池线花样：平行入射束经单晶非弹性散射失去很少能量，随之又遭到弹性散射而产生线状花样；主要用于衬度分析、结构分析、相变分析以及晶体的精确取向、布拉格位置偏移矢量、电子波长的测定等； 3）会聚束花样：会聚束与单晶作用产生盘、线状花样；可以用来确定晶体试样的厚度、强度分布、取向、点群、空间群以及晶体缺陷等。 第一节　倒易点阵与爱瓦尔德球 一、Bragg定律 二、爱瓦尔德球 三、倒易点阵 四、倒易空间与电子衍射 一、Bragg定律 二、爱瓦尔德球 倒易球 1）由晶体的（1/dhkl）即可决定衍射线的方向; 三、倒易点阵 (hkl)晶面可用一个矢量来表示，使晶体几何关系简单化一个晶带的所有面的矢量（点）位于同一平面，具有上述特性的点、矢量、面分别称为倒易点，倒易矢量、倒易面。因为它们与晶体空间相应的量有倒易关系。 1、倒易点阵中单位矢量的定义 设正点阵的原点为O, 2、倒易点阵的性质 倒易点阵的性质 3）对正交点阵 3、正点阵与倒点阵的关系 1、正点阵与倒易点阵互为倒易：即正点阵的倒易是倒易点阵；倒易点阵的倒易是正点阵； 2、倒易点阵中的方向[hkl]*与正点阵中同指数(hkl)面正交，倒易原点到倒易点的距离Ghkl=1/dhkl； 同样，正点阵中的晶向[uvw]与倒易点阵中同指数倒易平面(uvw)*正交，正点阵原点到uvw阵点的距离ruvw=1/d(uvw)*，d(uvw)*是倒易面(uvw)*的面间距。 面心立方→体心立方 体心立方→面心立方 其他关系 四、倒易空间与电子衍射 第二节　晶带定理与零层倒易截面 在正点阵中，同时平行于某一晶向[uvw]的一组晶面构成一个晶带，而这一晶向称为这一晶带的晶带轴。 晶面（h1k1l1）、（h2k2l2）、（h3k3l3）的法向N1、N2、N3和倒易矢量 零层倒易截面 晶带定律 求解晶带轴 根据晶带定理，只要通过电子衍射实验，测得零层倒易面上任意两个ghkl矢量，即可求出正空间内晶带轴指数[uvw]。 广义晶带定律 利用晶带定律进行计算 思考题1： 已知两g1、g2，均在过原点的倒易面上，求晶带轴r的指数[uvw] 1、已知g1=(020), g2=(220),求r=[uvw]. 答案：[uvw]=[001] 2、已知g1=(3 3 -1), g2=(-1 1 -1),求r=[uvw]. 答案：[uvw]=[-1 2 3] 思考题2：求两晶带轴构成的晶面 3、已知r1=[020], r2=[220],求ghkl. 标准电子衍射花样 标准电子衍射花样是标准零层倒易截面的比例图像，倒易阵点的指数就是衍射斑点的指数。 相对于某一特定晶带轴[uvw]的零层倒易截面内各倒易阵点的指数受到两个条件的约束。 第一个条件是:各倒易阵点和晶带轴指数间必须满足晶带定理，即hu＋kv＋lw=0，因为零层倒易截面上各倒易矢量垂直于它们的晶带轴。 第二个条件是只有不产生消光的晶面才能在零层倒易面上出现倒易阵点。 体心立方晶体[001] 晶带的标准零层倒易截面图 零层倒易截面图 2、根据夹角公式与点间的距离确定衍射斑点的相对位置。 体心立方晶体[011] 晶带的标准零层倒易截面图 [011]