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7.1 4 测试阶段的信息流 Test Information Flow 测试与软件开发各个阶段的关系 软件开发过程是一个自顶向下,逐步细化的过程 软件计划阶段定义软件作用域 软件需求分析建立软件信息域、功能和性能需求、约束等 软件设计 把设计用某种程序设计语言转换成程序代码 测试过程是依相反顺序安排的自底向上,逐步集成的过程。 基本概念 语句覆盖Statemet Coverage 判定覆盖Decision Coverage 条件覆盖Condition Coverage 判定/条件覆盖Decision /Condition Coverage 条件组合覆盖 Condition compounding Coverage 点覆盖: 设计测试方案—黑盒测试技术 测试人员将程序看成是一个“黑盒”,即不关心程序内部是什么,只要检查程序是符合它的“功能说明”。 2 等 价 划 分 (3) 边 界 值 分 析 5. 实用测试策略(1) 5. 实用测试策略(2) 集成测试(续) 它是一种非渐增式组装方式。也叫做整体拼装。 使用这种方式,首先对每个模块分别进行模块测试,然后再把所有模块组装在一起进行测试,最终得到要求的软件系统。 如果在一段时间内,软件系统故障停机时间分别为td1,td2,…,正常运行时间分别为tu1,tu2,…,则系统的稳态可用性为: Ass=Tup/(Tup+Tdown) (7.1) 其中Tup=∑tui,Tdown=∑tdi 如果引入系统平均无故障时间MTTF和平均维修时间MTTR的概念,则(7.1)式可以变成 Ass=MTTF/(MTTF+MTTR) (7.2) 平均无故障时间MTTF它主要取决于系统中潜伏的错误的数目,因此和测试的关系十分密切。 1.估算平均无故障时间的方法 软件的平均无故障时间MTTF是一个重要的质量指标,往往作为对软件的一项要求,由用户提出来。为了估算MTTF,首先引入一些有关的量。 1. 符号 在估算MTTF的过程中使用下述符号表示有关的数量: ET——测试之前程序中错误总数; IT——程序长度(机器指令总数); τ——测试(包括调试)时间; Ed(τ)——在0至τ期间发现的错误数; Ec(τ)——在0至τ期间改正的错误数。 2. 基本假定 根据经验数据,可以作出下述假定。 (1) 在类似的程序中,单位长度里的错误数ET/IT近似为常数。美国的一些统计数字表明,通常0.5×10-2≤ET/IT≤2×10-2也就是说,在测试之前每1000条指令中大约有5~20个错误。 (2) 失效率正比于软件中剩余的(潜藏的)错误数,而平均无故障时间MTTF与剩余的错误数成反比。 (3) 此外,为了简化讨论,假设发现的每一个错误都立即正确地改正了(即,调试过程没有引入新的错误)。因此 Ec(τ)=Ed(τ) 剩余的错误数为 Er(τ)=ET-Ec(τ) (7.3) 单位长度程序中剩余的错误数为 εr(τ)=ET/Ir-Ec(τ)/IT (7.4) 3. 估算平均无故障时间 经验表明,平均无故障时间与单位长度程序中剩余的错误数成反比,即 MTTF=1/[K(ET/IT-Ec(τ)/IT)] (7.5) 其中K为常数,它的值应该根据经验选取。美国的一些统计数字表明,K的典型值是200。 估算平均无故障时间的公式,可以评价软件测试的进展情况。此外,由(7.5)式可得 Ec=ET-IT/(K×MTTF) (7.6) 因此也可以根据对软件平均无故障时间的要求,估计需要改正多少个错误之后,测试工作才能结束。 4. 估计错误总数的方法 程序中潜藏的错误的数目是一个十分重要的量,它既直接标志软件的可靠程度,又是计算软件平均无故障时间的重要参数。 程序中的错误总数ET与程序规模、类型、开发环境、开发方法论、开发人员的技术水平和管理水平等都有密切关系。下面介绍估计ET的两个方法。 (1) 植入错误法 使用这种估计方法,在测试之前由专人在程序中随机地植入一些错误,测试之后,根据测试小组发现的错误中原有的和植入的两种错误的比例,来估计程序中原有错误的总数ET。 假设人为地植入的错误数为Ns,经过一段时间的测试之后发现ns个植入的错误,此外还发现了n个原有的错误。如果可以认为测试方案发现植入错误和发现原有错误的能力相同,则能够估计出程序中原有错误的总数为 N^=n/ns×Ns (7.7) 其中N^即是错误总数ET的估计值。 (2) 分别测试法 植入错误法的基本假定是所用的测试方案发现植入错误和发现原有错误的概率相同。但是,人为地植入的错误和程序中原有的错误可能
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